測定干膜厚度的重要性在于保證涂覆達到規(guī)定的厚度，避免由于不適當?shù)暮穸葘е峦繉拥倪^早失效。干膜厚度的測量，必須在涂膜完全干燥后，采用干膜測厚儀進行測定。常用的干膜測厚儀有：磁性測厚儀、固定探頭測厚儀、渦流儀和破壞性測厚儀。磁性厚度儀是目前廣泛應用的，其中有一種筆式測厚儀，用于現(xiàn)場檢查十分便捷，不用于精密檢查。測量時，必須使筆尖的磁探頭接觸并垂直于涂層表面，當彈簧的張力超過探頭對鐵基體的引力時，其筆尖端的磁探頭從涂層表面斷開，其分開瞬間的讀數(shù)為干膜厚度。

　　檢測時，測量點的選擇要注意分布的均勻性和代表性。對于大面積的平整表面每2m2測定一點，每點測定三次，計算算術平均值。焊縫、鉚釘?shù)葴y定確有困難的部位可不予測定，但為防止涂裝過薄應手工刷涂一遍。對于面積較小的區(qū)域或部件，需保證每一面應有三個以上的檢測點。對干膜厚度的要求一般如下：所有厚度測定點的平均值不應低于規(guī)定干膜厚度的90；未達到規(guī)定干膜厚度的測定點數(shù)目不應超過測定點總數(shù)的10。未達到規(guī)定厚度者應進行如下處理：合格率低于80，需全面補涂一道。合格率為80~90，應根據(jù)情況做局部涂漆；焊縫、鉚釘部位必須重涂一道涂料。許多涂層膜厚超過規(guī)定標準，一般都不成問題，但帶來了涂料的過多損耗和涂裝經(jīng)費的增加。但高膜厚不能產(chǎn)生過度的流掛、起皺或龜裂等缺陷。由于涂層過厚會影響溶劑的揮發(fā)和完全干燥，以及下一涂層的固化，應予以注意。當膜厚超過規(guī)定較大干膜厚度的10，應設法解決。

什么是膜厚儀

　　膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理是，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

　　臺式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值