



產(chǎn)品描述
天瑞X射線膜厚測試儀性能介紹及配置:
此型號為Thick800a
詳細(xì)配置信息:
一、硬件:主機(jī)壹臺,含下列主要部件:
(1) X光管(牛津) (2)Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測器(美國AMPTEK)
(3) 信號檢測電子電路 (4) 高精度二維移動平臺
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高低壓電源(SPELLMAN)
(7) 開放式樣品腔 (8)雙激光定位裝置
(9) 鉛玻璃屏蔽罩
二、軟件及其他:天瑞X射線膜厚測試儀FpThick分析軟件V1.0
2.1 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺
計(jì)算機(jī)(聯(lián)想,內(nèi)存2G,硬盤500G液晶顯示屏19寸)、Intel Pentium G3220*處理器
打印機(jī)(佳能,彩色噴墨打印機(jī))
2.2 資料:器使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。
2.3 標(biāo)準(zhǔn)附件
準(zhǔn)直孔:Ф0.2mm,Ф0.3mm,Ф0.5mm,Ф1.0mm(可選其中一種)
(已內(nèi)置于儀器中)
天瑞X射線膜厚測試儀產(chǎn)品圖片:
性能描述:
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
天瑞X射線鍍層測厚儀使用環(huán)境:
環(huán)境溫度要求:15℃-30
環(huán)境相對濕度:<70
工作電源:交流220±5V
周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。
天瑞X射線鍍層測厚儀技術(shù)指標(biāo):
分析元素范圍:K-U
同時(shí)可分析多達(dá)5層鍍層
分析厚度檢出限較高達(dá)0.005μm
定位精度:0.1mm
測量時(shí)間:5s-300s
計(jì)數(shù)率:0-8000cps
Z軸升降范圍:0-140mm
X/Y平臺可移動行程:50mm(W)×50mm(D)
銅鍍鎳件膜厚儀測試譜圖
樣 品 名
成分Ni()
鍍層Ni(um)
吊扣
100
19.321
吊扣2#
100
19.665
吊扣3#
100
18.846
吊扣4#
100
19.302
吊扣5#
100
18.971
吊扣6#
100
19.031
吊扣7#
100
19.146
平均值
100
19.18314
標(biāo)準(zhǔn)偏差
0
0.273409
相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
0
1.425257
銅鍍鎳件測試值
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
工作電壓:AC 110V/220V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)
測量時(shí)間:40秒(可根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整)較小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸:610(L) x 355 (W) x 380(H) mm,儀器重量:30kg
應(yīng)用領(lǐng)域
X熒光鍍層厚度測試儀廣泛應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)。
天瑞儀器對X射線膜厚儀提供的售后服務(wù)體系:
軟件免費(fèi)升級:如有軟件升級,乙方將免費(fèi)提供升級軟件,如需上門升級按技術(shù)服務(wù)條款收取相關(guān)費(fèi)用;免費(fèi)保修1年, 免費(fèi)保修期內(nèi),維修相關(guān)費(fèi)用全免;
技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限:提供較有效的技術(shù)服務(wù),在接到用戶故障信息后,4小時(shí)內(nèi)響應(yīng);如有必要,12~72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門維修和排除故障。
非乙方產(chǎn)品自身故障所造成的現(xiàn)場技術(shù)服務(wù)(如增加測試功能和數(shù)據(jù)校正等),乙方將按技術(shù)服務(wù)條款收取相關(guān)費(fèi)用。由甲方人為造成的損傷不在上述保修條款中,具體事例雙方協(xié)商解決。

X射線熒光測厚儀是采用上照式設(shè)計(jì)的,自帶三維移動平臺,滿足各種不規(guī)則樣品的金屬鍍層厚度測試。X射線熒光測厚儀的檢測范圍是0至50微米之間,測試誤差在5以內(nèi),較薄科測到0.005微米。XRF鍍鋅層測厚儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點(diǎn)測試,由軟件控制儀器的測試點(diǎn),以及移動平臺。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
XRF鍍鋅層測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)
XRF鍍鋅層測厚儀性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
XRF鍍鋅層測厚儀技術(shù)指標(biāo)
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
XRF鍍鋅層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實(shí)現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)



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