是否進(jìn)口否
是否跨境貨源否
適用范圍固體
報(bào)價(jià)方式電話報(bào)價(jià)
加工定制
直讀光譜儀OES6000采用CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),可測(cè)試覆蓋波長(zhǎng)范圍內(nèi)的所有譜線,配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧,方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES6000專注于有色金屬測(cè)試,是有色金屬材料元素測(cè)試的理想儀器。
全譜分析技術(shù),方便配置更多基體和元素,方便在用戶現(xiàn)場(chǎng)補(bǔ)充配置
儀器體積小巧,對(duì)實(shí)驗(yàn)室空間要求低
全天候工作,具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測(cè)試速度快,單次測(cè)試過(guò)程少于30秒
儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便,對(duì)人員要求低
原廠安裝分析程序,測(cè)試數(shù)據(jù),適用合齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑,測(cè)試過(guò)程安全、環(huán)保
技術(shù)性能及參數(shù)
1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)
恒溫控制(34℃±0.5℃)
材質(zhì)鑄造,保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600 l/mm
一級(jí)光譜線色散率:1.2 nm/mm
波長(zhǎng)范圍200-500nm
3.檢測(cè)器
高性能線陣CCD
4.分析時(shí)間
依樣品種類而不同,一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺(tái)
4mm樣品臺(tái)分析間隙
噴射電極技術(shù)
無(wú)待機(jī)流量,低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高300mm 長(zhǎng) 500mm 寬 450mm
30 kg
8.功率
功率700 W
待機(jī)功率40 W
工作條件
工作溫度:15-30℃
相對(duì)濕度:≤70%
電 源:220±5V,單相50Hz,接地電阻<1Ω
實(shí)驗(yàn)室無(wú)震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體
設(shè)備
高純氬氣——純度99.999%以上
交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調(diào)——依實(shí)驗(yàn)室面積配置匹配功率
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
無(wú)需抽真空的光室
直讀光譜儀OES6000采用空氣光室設(shè)計(jì),剔除真空泵。光室完全無(wú)油污污染源,儀器性能更穩(wěn)定;維護(hù)更方便,無(wú)真空泵運(yùn)行消耗電力。
全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素
基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線,方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。
配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便,方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測(cè)試元素、分析程序。
的測(cè)試方案
長(zhǎng)期測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀,天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測(cè)試方案。
測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類的分析程序,滿足用戶各類常見(jiàn)測(cè)試需求。
分析程序由原廠采用國(guó)際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn),經(jīng)儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù),不需購(gòu)買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
國(guó)際供應(yīng)商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss制造,保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測(cè)器——光電倍增管由日本Toshiba制造,確保譜線檢測(cè)靈敏、低噪聲
光學(xué)鏡片——德國(guó)Zeiss制造,光纖——美國(guó)Agilent制造
的光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層,有效保證光室內(nèi)恒溫。
由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。同時(shí)光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定。
應(yīng)用領(lǐng)域
金屬材料元素含量測(cè)試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機(jī)械行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)控制、質(zhì)量檢驗(yàn)等相關(guān)工作的傳統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩(wěn)定、同時(shí)測(cè)試幾十種分析元素, 滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀測(cè)試金屬材料元素含量便捷、環(huán)保、低成本,使研發(fā)、生產(chǎn)的過(guò)程和質(zhì)量更可控,幫助用戶提升產(chǎn)品的技術(shù)、質(zhì)量水平;同時(shí)加速相關(guān)流程,為用戶創(chuàng)造明顯的經(jīng)濟(jì)效益和環(huán)保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業(yè)技術(shù)和質(zhì)量水平的標(biāo)志性設(shè)備。

原子發(fā)射光譜分析是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來(lái)測(cè)定物質(zhì)的化學(xué)組分的。不同物質(zhì)由不同元素的原子所組成,而原子都包含著一個(gè)結(jié)構(gòu)緊密的原子核,核繞著不斷運(yùn)動(dòng)的電子。每個(gè)電子處于一定的能級(jí)上,具有一定的能量。在正常的情況下,原子處于穩(wěn)定狀態(tài),它的能量是的,這種狀態(tài)稱為基態(tài)。但當(dāng)原子受到能量(如熱能、電能等)的作用時(shí),原子由于與高速運(yùn)動(dòng)的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量,使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級(jí)上,處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位,當(dāng)外加的能量足夠大時(shí),原子中的電子脫離原子核的束縛力,使原子成為離子,這種過(guò)程稱為電離。原子失去一個(gè)電子成為離子時(shí)所需要的能量稱為一級(jí)電離電位。離子中的外層電子也能被激發(fā),其所需的能量即為相應(yīng)離子的激發(fā)電位。處于激發(fā)態(tài)的原子是十分不穩(wěn)定的,在極短的時(shí)間內(nèi)便躍遷至基態(tài)或其它較低的能級(jí)上。

發(fā)射光譜分析是根據(jù)被測(cè)原子或分子在激發(fā)狀態(tài)下發(fā)射的特征光譜的強(qiáng)度計(jì)算其含量。

式中I為透射光強(qiáng)度,I0為發(fā)射光強(qiáng)度,T為透射比,L為光通過(guò)原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。
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