天瑞環(huán)保測(cè)試儀的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率：采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

性能特點(diǎn)

的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器處理能力25倍。
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
電制冷UHRD探測(cè)器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 
同時(shí)分析元素：24種元素同時(shí)分析
功能范圍：水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析
分析精度：0.05% （對(duì)含量96%以上元素） 
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體 
測(cè)量時(shí)間：60s—200s  
能量分辨率為：（±5）eV  
管壓：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA

標(biāo)準(zhǔn)配置
電制冷UHRD探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)器 
光路增強(qiáng)系統(tǒng) 
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片 
的升降平臺(tái) 
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器 
外觀尺寸： 650×608×466 mm 
樣品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg 

國(guó)產(chǎn)x熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

測(cè)試高爐渣、生鐵、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、白云石、膨潤(rùn)土、石灰石、普硅等，還可以廣泛應(yīng)用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。

XRF分析儀是檢測(cè)ROHS鹵素鍍層厚度含量的儀器，采用新型的半導(dǎo)體SDD探測(cè)器，極大的提高計(jì)數(shù)率，縮減了測(cè)試時(shí)間。作為國(guó)內(nèi)的XRF分析儀器制造廠商，天瑞儀器秉承精益求精的研發(fā)理念，利用現(xiàn)代半導(dǎo)體技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展起來(lái)的新一代XRF測(cè)試儀EDX0B，能夠的解決ROHS環(huán)保指令涉及的有害物質(zhì)的快速測(cè)定。分析檢出限可達(dá)1ppm；分析含量一般為1ppm到99.99％；任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型；相互的基體效應(yīng)校正模型；多變量非線性回歸程序；溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃；電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源；能量分辨率：160±5eV；外觀尺寸： 550×416×333mm；樣品腔尺寸：460×298×98mm；重量：45Kg。儀器標(biāo)準(zhǔn)配置包括：樣品平臺(tái)；電制冷Si-PIN探測(cè)器；檢測(cè)電子電路；高低壓電源；大功率X光管；計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)。

RoHS檢測(cè)分析（五金工具、塑料顆粒、涂料、塑膠模具、皮革布料、電線電纜、保溫杯等）
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層（鍍錫、鍍鋅、鍍鎳、鍍銅、鍍銀、鍍銠、鍍鈀等）的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)

技術(shù)特點(diǎn)：
下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)100W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

環(huán)保測(cè)試儀EDX4500H技術(shù)參數(shù):測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）,元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）,同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素。測(cè)量時(shí)間：30秒-200秒；探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV。管壓：5KV-50KV；管流：50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體。輸入電壓：AC 110V/220V。環(huán)境溫度：15℃-30℃；環(huán)境濕度：35%-70%。樣品腔體積：320mm×100mm；外形尺寸：660mm×510mm×350mm。重量：65Kg。


超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際水平。新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到0CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好。SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍。自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性。高信噪比的電子線路單元。針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣。解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度。多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制。內(nèi)置高清晰攝像頭。液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。


天瑞儀器公司是全球生產(chǎn)高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺(tái)式X熒光環(huán)保測(cè)試儀EDX4500H,融匯合金分析技術(shù)，配備智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測(cè)試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測(cè)效果。同時(shí)，也大大提高了ROHS指令中有害物質(zhì)的分析精度和檢測(cè)限，可以實(shí)現(xiàn)無(wú)有害物質(zhì)指令的測(cè)試要求。
EDX4500H還是可以用于鍍層行業(yè)的儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)。是功能強(qiáng)大的鍍層測(cè)厚儀器，配上為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。完全滿足金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定要求。


售后服務(wù)：天瑞儀器在全國(guó)設(shè)有二十幾個(gè)服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)，為客戶提供的質(zhì)保服務(wù)。保修期內(nèi)同提高維修，軟件免費(fèi)升級(jí)，維修相關(guān)費(fèi)用全免。保修期結(jié)束后，交通費(fèi)、住宿費(fèi)實(shí)報(bào)實(shí)銷,服務(wù)費(fèi)800元  / 天。技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限短，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有必要，12～72時(shí)內(nèi)派人維修和排除故障。

環(huán)保測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
隨著歐盟ROHS環(huán)保指令的深入影響和環(huán)保發(fā)展趨勢(shì)越來(lái)越嚴(yán)格，X射線熒光環(huán)保測(cè)試儀在電子電器行業(yè)得到廣泛使用。天瑞儀器是生產(chǎn)環(huán)保測(cè)試儀的廠商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探測(cè)器，提供激發(fā)效率和測(cè)試精度。

環(huán)保測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

環(huán)保測(cè)試儀的工作原理
利用X射線熒光光譜儀，使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
http://www.smcgdsz.com