元素范圍從硫到鈾
檢測限1ppm
重復(fù)性0.1
測試誤差15%
分辨率160ev
X光管0-50kv
電源電壓220V
環(huán)境溫度15-30度
ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細(xì)資料和技術(shù)參數(shù)介紹,ROHS檢測儀報(bào)價(jià)和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報(bào)價(jià)。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測器的高分辨力,對元素含量進(jìn)行定性定量測試的熒光光譜儀,是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
天瑞產(chǎn)品--信噪比增強(qiáng)器(SNE),提高信號處理能力25倍以上。
EDX1800B 規(guī)格參數(shù)
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1%(含量96%以上)
長期工作穩(wěn)定性為0.1%(含量96%以上)
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

RoHS是由歐盟立法制定的一項(xiàng)強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn),它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》(Restriction
of Hazardous
Substances)。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器該標(biāo)準(zhǔn)將于2006年7月1日開始正式實(shí)施,主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn),使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。該標(biāo)準(zhǔn)的目的在于消除電機(jī)電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、和醚共6項(xiàng)物質(zhì),并重點(diǎn)規(guī)定了鉛的含量不能超過0.1%。其中涉及到的鉛主要出處有以下幾類。
[編輯本段]歐盟RoHS和WEEE指令的基本內(nèi)容
歐盟議會(huì)及歐盟會(huì)于2003年2月13日在其《公報(bào)》上發(fā)布了《廢舊電子電氣》設(shè)備指令(簡稱《WEEE指令》)和《電子電氣功設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》(簡稱《RoHS指令》)
《RoHS指令》和《WEEE指令》規(guī)定納入有害物質(zhì)限制管理和報(bào)廢回收管理的有類102種產(chǎn)品,前七類產(chǎn)品都是我國主要的出口電器產(chǎn)品。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器包括大型家用電器、小型家用電器、信息和通訊設(shè)備、消費(fèi)類產(chǎn)品、照明設(shè)備、電氣電子工具、玩具、休閑和運(yùn)動(dòng)設(shè)備、設(shè)備(被植入或被感染的產(chǎn)品除外)、監(jiān)測和控制儀器、自動(dòng)售賣機(jī)。

性能優(yōu)勢:
下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺:精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺,方便定位測試點(diǎn)
高分辨率探測器:提高分析的準(zhǔn)確性
新一代高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,實(shí)現(xiàn)更高的測試效率,高達(dá)100W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率
技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍:硫(S)~鈾(U)
檢出限:1ppm
分析含量:1ppm~99.99%
重復(fù)性:0.05%(含量96%以上)
穩(wěn)定性:0.05%(含量96%以上)

ROHS檢測儀主要性能優(yōu)勢:
1、采用激發(fā)X光源,樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測系統(tǒng),提高儀器元素的檢測靈敏度(降低檢出限);
2、具有現(xiàn)代化的外觀,結(jié)構(gòu)和色彩,上蓋電動(dòng)控制開關(guān),更人性化;
3、準(zhǔn)直器,濾光片自動(dòng)切換,可適應(yīng)不同的樣品測試要求;
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭,樣品測量更靈活方便;
5、配備功能齊全的測試軟件。
分析原理:
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀,其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:
Q=KE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;K為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù),并對獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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