ROHS設(shè)備EDX0E范圍：硫（S）~
鈾（U）
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm~
99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍：15℃~
30℃
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：144±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg儀器配置樣品平臺 
SDD探測器
檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機ROHS設(shè)備EDX0E應(yīng)用領(lǐng)域RoHS（環(huán)保、重金屬）檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
檢測主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)；電子電器行業(yè)性能優(yōu)勢下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護ROHS設(shè)備EDX0E范圍介紹XRF:X射線熒光光譜分析(XRay
Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray
Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出

ROHS設(shè)備適用于工廠來料及制程控制中的有害物質(zhì)檢測，鉛（Pb）、（Hg）、鎘（Cr）、鉻（Cd）、溴（Br）、氯（Cl）控制的利器。
ROHS設(shè)備介紹：
EXF-10A是具有三重X射線防護措施；人性化的操作界面；應(yīng)用算法、FP法、經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法分析軟件。滿足RoHS/WEEE相關(guān)管控要求，完全符合國際電工會IEC62321標準及環(huán)保標準所規(guī)定的技術(shù)要求和技術(shù)規(guī)范。
EXF-10A適用于工廠來料及制程控制中的有害物質(zhì)檢測，鉛(Pb)、(Hg)、鎘(Cr)、鉻(Cd)、溴(Br)、氯(Cl)控制的利器。
ROHS設(shè)備產(chǎn)品特點：
1、無損檢測，可對電子電氣設(shè)備，玩具指令中的有害物質(zhì)進行定性定量分析。
2、測量時間短，客戶可選擇測試時間：60-300秒。
3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關(guān)設(shè)計，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀。
4、配備XY軸可平臺，方便樣品點選測試。
5、點擊軟件電動自動開關(guān)樣品腔蓋，無需手動打開關(guān)閉，人性化操作！
6、采用美國電制冷Si-pin探測器：提高分析的準確性，無需耗材。
7、ling先的超短光路設(shè)計，配套特有的光管管控程序，更有效X光管壽命。良好的散熱系統(tǒng)，更能保證儀器的超長使用。
8、上照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，的樣品成像準直系統(tǒng)，實現(xiàn)對樣品的準確點測。
9、平臺：精細的自動平臺，方便定位測試點。
10、準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動自動切換，滿足各種物質(zhì)測試方式的應(yīng)用。
11、國際ling先的數(shù)據(jù)分析方法，測量結(jié)果更穩(wěn)定、。
12、分析軟件： ROHS/無鹵分析軟件。
13、配備商用電腦及打印機，可以隨時打印報告，可更直觀的了解測試數(shù)據(jù)。
技術(shù)參數(shù)：

測試對像：粉未、固體、液體
元素分析范圍:鋁（Al）－鈾（U）
含量分析范圍：1ppm～99.99%
測試時間：60～300秒（可根據(jù)需要時調(diào)節(jié)）
能量分辨率：139eV5EV
多道分析器：2048通道
X射線發(fā)生器：材可選Ag、Rh、W、Mo，性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率，實現(xiàn)更高的測試效率。

高壓發(fā)生器：電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時小于0.05%
工作溫度：15℃至30℃ 濕度：80%
電源：交流220V5V 
外型尺寸：670mm470mm370mm
測量倉：520mm370mm105mm
重量：45Kg
低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br1ppm,Pb2ppm,Cl15ppm

XRF檢測設(shè)備應(yīng)用領(lǐng)域： 
1.電子、磁性材料領(lǐng)域：用來研究半導體、磁光盤、磁性材料、電池、線路板、電容囂等；
2.化學工業(yè)領(lǐng)域：可用來研究無機、有機制品、化學纖維　催化劑、涂料、顏料、品　、化妝品、洗滌劑、橡膠、調(diào)色劑等成分；
3.鋼鐵、有色金屬領(lǐng)域：可用來研究和測定各種合金成分；
4.陶瓷、水泥領(lǐng)域：可用來測定水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、巖石等；
5.農(nóng)業(yè)、食品工業(yè)中可用來檢測中土壤、肥料、植物、食品等；

超薄窗X光管，指標達到國際水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
 
標準配置
 
超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試配件
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。
性能特點
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
技術(shù)指標
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸：550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
X熒光光譜儀技術(shù)已成功應(yīng)用于環(huán)境、食物鏈、動植物、農(nóng)產(chǎn)品、人體組織細胞及、生物材料、組織細胞、試劑、動植物、代謝產(chǎn)物中的無機元素測定。
X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至，檢出限到2pg。
X熒光光譜儀是一種波長較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征，通過側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。
X熒光光譜儀優(yōu)點
a)分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b)X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學位的測定。
c)非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d)X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
e)分析精密度高。
f)制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
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