ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
抽真空的ROHS檢測儀和其它的非抽真空的ROHS檢測儀大的區(qū)別在于其多了一個真空泵的配置，在其檢測環(huán)鏡里是真空的狀態(tài)，這減少了空氣對一些輕元素的干擾，提高了檢測限，也提高的檢測的精準度和穩(wěn)定性。
抽真空EX7900參數(shù)：
產(chǎn)品型號：EDX 7900
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 同時分析元素：一次性可測幾十種元素 分析精度：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性） 測量時間：30秒-200秒 探測器能量分辨率為：145±5eV管壓：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體輸入電壓：AC 110V/220V環(huán)境溫度：15℃-30℃ 環(huán)境濕度：35%-70%樣品腔體積：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg
硬件配置
超薄窗X光管 SDD硅漂移探測器 數(shù)字多道技術(shù)信噪比增強器 SNE光路增強系統(tǒng) 高信噪比電子線路單元 內(nèi)置高清晰攝像頭 自動切換型準直器和濾光片 自動穩(wěn)譜裝置 三重安全保護模式 可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域
ROHS檢測，無鹵檢測，合金檢測、全元素成份分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素

如何選擇ROHS檢測儀呢？作為的 rohs檢測儀生產(chǎn)商，可以從以下幾方面入手考慮，
 先要考察公司的實力，與購買其他產(chǎn)品一樣，要購買XRF，我們需要了解該是不是在RoHS指令期間出現(xiàn)。我們都知道儀器技術(shù)依賴于積累和沉淀，如果這個公司沒有長時間的技術(shù)積累，只是為RoHS而生。沒有市場認可度很可能突然蒸發(fā)，用戶將做什么以及誰將負責(zé)服務(wù)？ 
  除了測試RoHS指令測量的元素外，儀器的某些XRF還具有其他功能。有XRF還具有厚度測量功能。以及其它成分的分析。
儀器的性能是購買儀器非常重要的指標。為什么儀器的價格相差較大，主要原因是儀器的心臟，探測器
探測器分辨率的高低決定了儀器的價格和主要性能

ROHS檢測儀主要性能優(yōu)勢：
1、采用激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測系統(tǒng)，提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現(xiàn)代化的外觀，結(jié)構(gòu)和色彩，上蓋電動控制開關(guān)，更人性化；
3、準直器，濾光片自動切換，可適應(yīng)不同的樣品測試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測試軟件。

相比之前的傳統(tǒng)的ROHS檢測儀，雖然它們大多型號也能在原基礎(chǔ)升級為鹵素測試，但需在硬件和軟件上做較大的改動，且成本較高，目前市場上的能測ROHS和鹵素的儀器都是分體式設(shè)計，成本較高些，而天瑞的EDX1100在算法軟件上，將ROHS測試和鹵素測試一體化，兩者化二為一，等于是一個整體，在產(chǎn)品成本上大大得到了壓縮，也等于是直接讓利了客戶，相比之前分體式設(shè)計也能同時檢測ROHS和鹵素的機臺，EDX1100的一體化設(shè)計，成本至少降低了30%，EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應(yīng)用上屬于通用于ROHS檢測儀器，廣泛應(yīng)用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產(chǎn)和制造領(lǐng)域環(huán)保臨測。
技術(shù)參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）測量時間：200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達125eV準直器：6種準直器自動切換濾光片：5種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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