分析范圍0~50微米
分析誤差5%
分析時(shí)間30秒
重復(fù)性0.1%
電源電壓220V
天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測(cè)量技術(shù)經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。測(cè)量方便快捷,無需液氮,無需樣品前處理。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進(jìn)行檢測(cè),幫助企業(yè)準(zhǔn)確核算成本及質(zhì)量管控??蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
X射線測(cè)厚儀具有環(huán)保綠色安全的特性,不但還更環(huán)保而且對(duì)于人和環(huán)境的更小。X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),已達(dá)到要求的軋制厚度.測(cè)量元素:原子序數(shù)22(Ti)~83(Bi)
檢測(cè)器:比例計(jì)數(shù)管
X射線管:管電壓:50kV 管電流:1
準(zhǔn)直器:4種(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)
樣品觀察:CCD攝像頭(可進(jìn)行廣域觀察)
X-Ray Station:電腦、19英寸液晶顯示器
膜厚測(cè)量軟件:薄膜EP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法
測(cè)量功能:自動(dòng)測(cè)量、中心搜索
定性功能:KL標(biāo)記、比較表示
使用電源:220V/7.5A
特長(zhǎng):
1.自動(dòng)對(duì)焦功能 自動(dòng)接近功能
在樣品臺(tái)上放置各種高度的樣品時(shí),只要高低差在80mm范圍內(nèi),即可在3秒內(nèi)自動(dòng)對(duì)焦被測(cè)樣品。由此進(jìn)一步提高定位操作的便捷性。
●自動(dòng)對(duì)焦功能 簡(jiǎn)便的攝像頭對(duì)焦
●自動(dòng)接近功能 適合位置的對(duì)焦
測(cè)量元素:原子序數(shù)22(Ti)~83(Bi)
檢測(cè)器:比例計(jì)數(shù)管
X射線管:管電壓:50kV 管電流:1
準(zhǔn)直器:4種(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)
樣品觀察:CCD攝像頭(可進(jìn)行廣域觀察)
X-Ray Station:電腦、19英寸液晶顯示器
膜厚測(cè)量軟件:薄膜EP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法
測(cè)量功能:自動(dòng)測(cè)量、中心搜索
定性功能:KL標(biāo)記、比較表示
使用電源:220V/7.5A
高分辨率 SDD
元素范圍: 鋁 - 鈾
樣品艙設(shè)計(jì):開槽式
XY 軸樣品臺(tái)選擇:固定臺(tái)、自動(dòng)臺(tái)

2016年10月,工業(yè)和信息化部發(fā)布了三項(xiàng)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),分別為JB/T 12962.1-2016《能量色散X射線熒光光譜儀 第1部分:通用技術(shù)》、JB/T 12962.2-2016《能量色散X射線熒光光譜儀 第2部分:元素分析儀》和JB/T 12962.3-2016《能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分:鍍層厚度分析儀》(以下簡(jiǎn)稱“三項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)”)。三項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)將于2017年4月1日正式實(shí)施。這三項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)均由天瑞儀器起草撰寫。
天瑞儀器作為在國(guó)內(nèi)的X熒光光譜儀生產(chǎn)廠商,X熒光光譜儀產(chǎn)品齊全、種類繁多,包括能量色散X射線熒光光譜儀、波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀等,基本覆蓋了X熒光光譜儀的所有產(chǎn)品。其在業(yè)內(nèi)的度獲得了國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理會(huì)的認(rèn)可。2010年,全國(guó)工業(yè)過程測(cè)量和控制標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)會(huì)分析儀器分技術(shù)會(huì)任命天瑞儀器為三項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的主編單位。本次起草編撰歷時(shí)4年。經(jīng)過多次的驗(yàn)證、討論及意見征求, 2014年1月,天瑞儀器依據(jù)參編單位意見對(duì)標(biāo)準(zhǔn)工作組討論稿再次進(jìn)行修改并形成了標(biāo)準(zhǔn)送審稿。2016年10月,工業(yè)和信息化部批準(zhǔn)發(fā)布了該標(biāo)準(zhǔn),并定于2017年4月1日實(shí)施。
二十世紀(jì)七十年代末,我國(guó)引進(jìn)能量色散X射線熒光光譜儀投入使用,到90年代我國(guó)已具備自主生產(chǎn)能量色散X射線熒光光譜儀的能力。經(jīng)歷了近30年的發(fā)展,到二十一世紀(jì)初我國(guó)能量色散X射線熒光光譜儀生產(chǎn)技術(shù)已日臻成熟。目前,我國(guó)已有多家研制、生產(chǎn)、組裝能量色散X射線熒光光譜儀的廠商,其產(chǎn)品主要性能指標(biāo)基本接近國(guó)際水平。但是如何對(duì)能量色散X射線熒光光譜儀進(jìn)行有效的質(zhì)量評(píng)定,確保能量色散X射線熒光光譜儀的品質(zhì),目前國(guó)內(nèi)還沒有統(tǒng)一的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),相關(guān)企業(yè)基本按照自定的標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn),難免造成儀器性能不穩(wěn)定、產(chǎn)品質(zhì)量參差不齊、使用者對(duì)儀器性能不了解、儀器購(gòu)銷貿(mào)易糾紛不斷等問題,嚴(yán)重影響了行業(yè)的健康發(fā)展。
三項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施將打破能量色散X射線熒光光譜儀行業(yè)的亂象,將規(guī)范本行業(yè)對(duì)于產(chǎn)品的技術(shù)要求及其測(cè)試方法,促進(jìn)產(chǎn)業(yè)的進(jìn)步和發(fā)展;將為產(chǎn)品的合同訂立和產(chǎn)品交易提供技術(shù)支持,確保供貨方和使用方的和利益;將使相關(guān)學(xué)術(shù)交流中,實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和測(cè)量結(jié)果的表述更加準(zhǔn)確、可靠,更具參考性;將為儀器的生產(chǎn)及制造過程中提供可做為驗(yàn)收依據(jù)的參考數(shù)據(jù)。

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測(cè)試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測(cè)器:分辨率低至135eV
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm

測(cè)厚儀產(chǎn)品特性
★進(jìn)口高精度傳感器,保證了測(cè)試精度
★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力,同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
★測(cè)量頭自動(dòng)升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式,更方便客戶選擇
★配備微型打印機(jī),數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印,方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
★打印值、小值、平均值及每次測(cè)量結(jié)果,方便用戶分析數(shù)據(jù)
★儀器自動(dòng)保存多100組測(cè)試結(jié)果,隨時(shí)查看并打印
★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備
★測(cè)厚儀配備自動(dòng)進(jìn)樣器,可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量,人為誤差小
★軟件提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析,準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶
★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測(cè)量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
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