X熒光鍍層測厚儀硬件配置
高功率高壓單元搭配微焦斑的X光管,大的保證了信號輸出的效率與穩(wěn)定性。
EDX能的將不同的元素準(zhǔn)確解析,針對多鍍層與復(fù)雜合金鍍層的測量,有著不可比擬的優(yōu)勢。
在準(zhǔn)直器的選擇上,EDX金屬鍍層測厚儀也有著很大的優(yōu)勢,它可以搭配的準(zhǔn)直器更小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的準(zhǔn)直器得到的超小光斑,讓更小樣品的測量也變得游刃有余。
月，伴著撲面而來的春風(fēng)，第70屆美國匹茲堡實驗室展PITTCON將于2019年3月18日—21日在美國費城賓夕法尼亞展覽中心舉行，PITTCON被譽為全球的分析化學(xué)、科學(xué)分析及實驗室展。
作為國內(nèi)化學(xué)分析儀器的，天瑞儀器自然不會缺席這場行業(yè)盛宴。屆時，天瑞將向世界展示天瑞儀器在化學(xué)分析儀器領(lǐng)域的技術(shù)與實力。
     隨著市場需求的快速增長，天瑞儀器國際市場的步伐也在不斷加碼。目前，天瑞產(chǎn)品已遠銷全球140多個國家和地區(qū)。連年參加PITTCON、Analytica、ArabLab 等國際展覽會，向全球客戶展現(xiàn)了我們天瑞的產(chǎn)品和解決方案。相信在本次PITTCON 2019上，天瑞儀器亦將再度彰顯國產(chǎn)儀器風(fēng)采，展現(xiàn)中國技術(shù)水平。
     此次展會，天瑞儀器將攜帶手持式合金分析儀EXPLORER 5000、船用燃油硫含量快速檢測設(shè)備Cube 100S PLUS、熒光合金分析儀EDX3600H X、能量色散X熒光光譜儀EDX3200S PLUS-C等儀器盛裝出席。展位號：1539，屆時歡迎廣大嘉賓蒞臨展會現(xiàn)場參觀，相信我們天瑞的產(chǎn)品一定能讓您不虛此行！

X熒光鍍層測厚儀配置
01 立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管 
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護
05 Fast-SDD探測器
06 雙激光定位裝置
07 標(biāo)配可自動切換的準(zhǔn)直孔和濾光片

軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實時監(jiān)控，讓您的使用更加放心。

臺式x射線測厚儀可測量：單一鍍層：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
應(yīng)用領(lǐng)域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。
快速、的分析：
大面積正比計數(shù)探測器和50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強度大、斑點小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供靈敏度
簡單的元素區(qū)分：
通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜 
性能優(yōu)化，可分析的元素范圍大：
預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法
的長期穩(wěn)定性：
自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩(wěn)定的測試結(jié)果
例行進行簡單快速的波譜校準(zhǔn)，可自動檢查儀器性能（例如靈敏性）并進行必要的修正
堅固耐用的設(shè)計
可在實驗室或生產(chǎn)操作
堅固的工業(yè)設(shè)計
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進行快速對焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
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