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鍍鎳鍍層檢測儀什么牌子好
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產(chǎn)品描述

分析范圍0~50微米 分析誤差5% 分析時間30秒 重復(fù)性0.1% 電源電壓220V
天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術(shù)經(jīng)驗,專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚儀。測量方便快捷,無需液氮,無需樣品前處理。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進(jìn)行檢測,幫助企業(yè)準(zhǔn)確核算成本及質(zhì)量管控。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
X射線測厚儀

X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),已達(dá)到要求的軋制厚度。

應(yīng)用領(lǐng)域

X射線測厚儀

中文名:x射線測厚儀
測量精度:測量厚度的±0。1%
測量范圍:0.01mm—8.0mm
靜態(tài)精度:±0.1%或者±0.1微米
結(jié)構(gòu)組成
用戶操作終端

冷卻系統(tǒng)
X射線發(fā)射源及接收檢測頭
主控制柜
適用范圍

生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機配套,應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中,x射線測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產(chǎn)過程中對板材厚度進(jìn)行自動控制。
鍍鎳鍍層檢測儀什么牌子好
集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術(shù)和經(jīng)驗,以特的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要,人性化的設(shè)計,使測試工作更加輕松完成。
使用而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計,使儀器操作更人性化、更方便。
長效穩(wěn)定X銅光管
半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng),摒棄液氮制冷
內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時觀測樣品
脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確
手動開關(guān)樣品腔,操作安全方便
三重安全保護(hù)模式
整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型高貴時尚
FP軟件,無標(biāo)準(zhǔn)樣品時亦可測量
管流:50μA-1000μA
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:30%-70%
準(zhǔn)直器:配置不同直徑準(zhǔn)直孔,小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸:610(L) x 355 (W) x 380(H) mm
儀器重量:30kg
應(yīng)用領(lǐng)域
廣泛應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)
鍍鎳鍍層檢測儀什么牌子好
X熒光測厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時間短,僅為數(shù)十秒;即可分析出各金屬鍍層的厚度,分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法,屬于物理分析方法。當(dāng)鍍層樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,探測器探測到這些特征X射線后,將其光轉(zhuǎn)變?yōu)槟M;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字并送入計算機進(jìn)行處理;計算機的應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。 
我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員,依靠多年的科學(xué)研究,總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實踐經(jīng)驗,結(jié)合的特色,開發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡便、實用等優(yōu)點。 
我公司新研制的X熒光測厚儀,廣泛用于用于鍍層厚度的測量、電鍍液厚度的測量。  
1. 儀器特點: 
Ø  同時分析元素周期表中由鈦(Ti)以上元素的鍍層厚度; 
Ø  可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度; 
Ø  無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程;分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M ; 
Ø  采用的探測器技術(shù)及的處理線路,處理速度快,精度高,穩(wěn)定可靠; 
Ø  采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管,激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示; 
Ø  采用彩色攝像頭,準(zhǔn)確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像; 
Ø  采用電動控制樣品平臺,可以進(jìn)行X-Y-Z的,準(zhǔn)確方便; 
Ø  采用雙激光對焦系統(tǒng),準(zhǔn)確定位測量位置; 
Ø  度高,穩(wěn)定性好,故障率低; 
Ø  采用多層屏蔽保護(hù),安全性可靠; 
Ø  WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件,特的分析方法,完備強大的功能,操作簡單,使用方便,  分析結(jié)果存入標(biāo)準(zhǔn)ACCESS數(shù)據(jù)庫;  
2、儀器的技術(shù)特性 
2.1 X-Y-Z樣品平臺裝置 
 X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。 
樣品種類:各種形狀的鍍層樣品,及電鍍液體樣品。 
平臺:X-Y-Z采用電動方式,實用方便。
鍍鎳鍍層檢測儀什么牌子好
x射線測厚儀是一種檢測儀器,以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),已達(dá)到要求的軋制厚度。
    x射線測厚儀是一種,以和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度,已達(dá)到要求的軋制厚度。今天我們主要來介紹一下x射線測厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成方法,希望可以幫助用戶更好的應(yīng)用產(chǎn)品。
用戶操作終端
用戶操作終端包括一個的計算機和高分辨率的彩色??娠@示整個系統(tǒng)的檢測、設(shè)定、偏差值;用戶通過軟件顯示頁面可直接控制和操作測厚儀。主操作頁顯示正常操作所需的各種數(shù)據(jù)。維護(hù)頁面顯示系統(tǒng)正常工作時各種參數(shù)高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質(zhì)量有關(guān)的重要數(shù)據(jù)如厚差曲線、厚度與長度關(guān)系曲線均可打印。技術(shù)員能很容易地通過操作終端的報表打印功能,打印出來以顯示可用信息。
冷卻系統(tǒng)
本系統(tǒng)配備有冷卻裝置,該裝置的關(guān)鍵部件,壓縮機組均采用進(jìn)口原裝組件,具有可靠性高、噪音小、控溫精度高,經(jīng)久耐用等特點。通過C型架上進(jìn)出油口進(jìn)行冷卻。了關(guān)鍵部件的使用壽命。
X射線發(fā)射源及接收檢測頭
采用X射線管和。X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻,高壓等級根據(jù)有所區(qū)別,加上具有的溫度自動保護(hù)與功能,提高了X射線管的穩(wěn)定性和使用壽命。模塊化設(shè)計、免維護(hù)設(shè)計方案及規(guī)范的制造保證了設(shè)備系統(tǒng)高可靠性。
檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成高性能電離室檢測頭,離子室設(shè)計具有大空間,高抗干擾性、高靈敏度等特點。系統(tǒng)備有風(fēng)冷、油冷恒溫冷卻單元,系統(tǒng)的使用壽命。
主控制柜
主控制柜是一個立式控制臺,是個系統(tǒng)的心臟。根據(jù)制系統(tǒng)配置不同,P型采用S7-400PLC作為控制計算中心;G型采用為控制計算中心??刂乒褙?fù)責(zé)采集和處理從前置放大器傳來的,負(fù)責(zé)測厚儀數(shù)據(jù)處理和與軋機AGC系統(tǒng)的接口輸出,為軋機AGC系統(tǒng)提供測厚數(shù)據(jù)及控制。控制柜還提供整個系統(tǒng)穩(wěn)定的和現(xiàn)場顯示器的顯示數(shù)據(jù)。
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
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