分析范圍0~50微米
分析誤差5%
分析時間30秒
重復性0.1%
電源電壓220V
天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術(shù)經(jīng)驗,專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚儀。測量方便快捷,無需液氮,無需樣品前處理。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行檢測,幫助企業(yè)準確核算成本及質(zhì)量管控。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
X射線測厚儀
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),已達到要求的軋制厚度。
應(yīng)用領(lǐng)域
X射線測厚儀
中文名:x射線測厚儀
測量精度:測量厚度的±0。1%
測量范圍:0.01mm—8.0mm
靜態(tài)精度:±0.1%或者±0.1微米
結(jié)構(gòu)組成
用戶操作終端
冷卻系統(tǒng)
X射線發(fā)射源及接收檢測頭
主控制柜
適用范圍
生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機配套,應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中,x射線測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產(chǎn)過程中對板材厚度進行自動控制。

集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術(shù)和經(jīng)驗,以特的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要,人性化的設(shè)計,使測試工作更加輕松完成。
使用而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計,使儀器操作更人性化、更方便。
長效穩(wěn)定X銅光管
半導體硅片電制冷系統(tǒng),摒棄液氮制冷
內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時觀測樣品
脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速準確
手動開關(guān)樣品腔,操作安全方便
三重安全保護模式
整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型高貴時尚
FP軟件,無標準樣品時亦可測量
管流:50μA-1000μA
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:30%-70%
準直器:配置不同直徑準直孔,小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸:610(L) x 355 (W) x 380(H) mm
儀器重量:30kg
應(yīng)用領(lǐng)域
廣泛應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)

月,伴著撲面而來的春風,第70屆美國匹茲堡實驗室展PITTCON將于2019年3月18日—21日在美國費城賓夕法尼亞展覽中心舉行,PITTCON被譽為全球的分析化學、科學分析及實驗室展。
作為國內(nèi)化學分析儀器的,天瑞儀器自然不會缺席這場行業(yè)盛宴。屆時,天瑞將向世界展示天瑞儀器在化學分析儀器領(lǐng)域的技術(shù)與實力。
隨著市場需求的快速增長,天瑞儀器國際市場的步伐也在不斷加碼。目前,天瑞產(chǎn)品已遠銷全球140多個國家和地區(qū)。連年參加PITTCON、Analytica、ArabLab 等國際展覽會,向全球客戶展現(xiàn)了我們天瑞的產(chǎn)品和解決方案。相信在本次PITTCON 2019上,天瑞儀器亦將再度彰顯國產(chǎn)儀器風采,展現(xiàn)中國技術(shù)水平。
此次展會,天瑞儀器將攜帶手持式合金分析儀EXPLORER 5000、船用燃油硫含量快速檢測設(shè)備Cube 100S PLUS、熒光合金分析儀EDX3600H X、能量色散X熒光光譜儀EDX3200S PLUS-C等儀器盛裝出席。展位號:1539,屆時歡迎廣大嘉賓蒞臨展會現(xiàn)場參觀,相信我們天瑞的產(chǎn)品一定能讓您不虛此行!

天瑞儀器在X射線熒光光譜儀行業(yè)屢創(chuàng)輝煌,譬如,生產(chǎn)的食品重金屬快速檢測儀EDX 3200S PLUS X,采用了能量色散X射線熒光光譜技術(shù)實現(xiàn)食品中微量重金屬有害元素的快速檢測,操作簡單,自動化程度高,可同時檢測24個樣本;在多年同時式波長色散X射線熒光光譜儀的研發(fā)和產(chǎn)品化基礎(chǔ)上,在國家重大科學儀器設(shè)備開發(fā)專項資金支持下,融合的科技創(chuàng)新和發(fā)明,推出了國內(nèi)臺商業(yè)化順序式波長色散X射線熒光光譜儀——WDX 4000,為土壤重金屬檢測提供新支持;成功研發(fā)EXPLORER手持式能量色散X射線熒光光譜儀,促進了儀器的小型化與便攜化等。
今后,天瑞儀器將繼續(xù)以“行業(yè)”為目標,不斷提升技術(shù)水平,使國產(chǎn)儀器媲美國外,走向國際。同時,天瑞儀器著眼于日益嚴峻的環(huán)保形勢,積極調(diào)整產(chǎn)品結(jié)構(gòu),致力于環(huán)保解決方案的提供,守護碧水藍天。與時俱進開拓創(chuàng)新,用科學技術(shù)服務(wù)于國家,服務(wù)于,是每
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進行快速對焦分析。能地滿足半導體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
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