分析范圍0-50微米
分析精度5%
較薄測試0.005微米
儀器架構上照式
儀器重量90公斤
分析時間30S
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
天瑞儀器一直以來都是以客戶需求為出發(fā)點,解決客戶的后顧之憂。通過此次會議,不僅加強了多方聯(lián)系,獲得面對面交流的機會,同時也提高了用戶的操作水平,解決了用戶在日常操作中遇到的問題,幫助用戶更好的使用儀器。

此次天瑞儀器授牌為商業(yè)秘密保護示范點,將有效地加大公司商業(yè)秘密保護力度,切實保護公司商業(yè)秘密核心知識產權,更好的推動公司的創(chuàng)新發(fā)展。今后,天瑞也將發(fā)揮出示范作用,配合,推進更多示范點建設,共同做好商業(yè)秘密保護工作。

測厚儀產品特性
★進口高精度傳感器,保證了測試精度
★嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制
★測量頭自動升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇
★配備微型打印機,數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印,方便快捷地獲取測試結果
★打印值、小值、平均值及每次測量結果,方便用戶分析數(shù)據(jù)
★儀器自動保存多100組測試結果,隨時查看并打印
★標準量塊標定,方便用戶快速標定設備
★測厚儀配備自動進樣器,可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量,人為誤差小
★軟件提供測試結果圖形統(tǒng)計分析,準確直觀地將測試結果展示給用戶
★配備標準RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸

鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量而精心設計的新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
2、性能優(yōu)勢
精密的三維平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結果
3、技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩(wěn)定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至eV
采用的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃
2013年4月19日,天瑞連續(xù)第五年蟬聯(lián)“具影響力廠商”,EDX-P730手持式X熒光光譜儀蟬聯(lián)“年度受關注儀器”。
http://www.smcgdsz.com