天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產(chǎn)品報價和說明。一鍵式設(shè)計的xrf測試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測試和分析，無需化學前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡化測試手段。
分辨率：
采用硅漂移探測器 ，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
度，性能優(yōu)：
使用25mm2大面積鈹窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù)，提高分析速度，總體提高系統(tǒng)處理能力，計數(shù)率可達8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭，定位：
采用新型工業(yè)級相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現(xiàn)定位。

探測器內(nèi)包含前置放大器與主放大器電路，一體 化設(shè)計保證儀器有好的穩(wěn)定性和可靠性分辨率底可達140eV（計數(shù)率1000/S左右時
新型的結(jié)構(gòu)設(shè)計，保證光管的散熱，提高光管的 使用壽命。高壓5-50KV電流達至iJ1mA （可根據(jù)客戶要求由軟件設(shè)置）
軟件介紹
支持Windows操作系統(tǒng)，中文版軟件（可安裝英文 軟件）件設(shè)置）
具有技術(shù)管理權(quán)限密碼功能，可以更好的保護測試數(shù) 據(jù)不被隨意更改
軟件具有定性分析，自動元素識別功能，方便對樣品 元素的識別和定性，并可以打印具有譜圖的定性分析 報告
可以由軟件自動控制切換準直器和濾光片，減少因人 為更換錯誤準直器，而造成測量的誤差

完全滿足于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提供了產(chǎn)品的可靠性
利用新X光管提高儀器的測試效率，并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高防護等級
不添加任何硬件設(shè)施既可升級分析功能，方便靈活的隨未來發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類
采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低
檢測時間短，可以大大提高工作效率

應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀
行，飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護
ROHS檢測儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關(guān)的，測量的時間越長，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測同一款樣品的連續(xù)測試十一次或二十一次的相對標準偏差。
3.準確度
定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準確度也一定差。反之，準確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計數(shù)統(tǒng)計誤差
在放射性物質(zhì)的測量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機械在現(xiàn)性可確保，由儀器機械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計，但計數(shù)統(tǒng)計誤差還是不能。X射線強度是把入射到計數(shù)器上的光子變成脈沖后計數(shù)而得到的。因而計數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計誤差。 被測X射線的計數(shù)值（N）的分布屬于隨機事件，其標準偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計誤差。時間越長，則相對偏差越小，即精度越高。
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