ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細資料和技術參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
如何選擇ROHS檢測儀呢？作為的 rohs檢測儀生產(chǎn)商，可以從以下幾方面入手考慮，
 先要考察公司的實力，與購買其他產(chǎn)品一樣，要購買XRF，我們需要了解該是不是在RoHS指令期間出現(xiàn)。我們都知道儀器技術依賴于積累和沉淀，如果這個公司沒有長時間的技術積累，只是為RoHS而生。沒有市場認可度很可能突然蒸發(fā)，用戶將做什么以及誰將負責服務？ 
  除了測試RoHS指令測量的元素外，儀器的某些XRF還具有其他功能。有XRF還具有厚度測量功能。以及其它成分的分析。
儀器的性能是購買儀器非常重要的指標。為什么儀器的價格相差較大，主要原因是儀器的心臟，探測器
探測器分辨率的高低決定了儀器的價格和主要性能

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產(chǎn)權的高科技企業(yè)，注冊資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技（仙桃）有限公司、四川天瑞環(huán)境科技有限公司六家全資子公司和江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全資源化有限公司三家控股子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

EDX采用新一代的鈹窗X大功率光管，比市場上其它同類設備壽命提高了5000小時，為了壓縮成本，在產(chǎn)品結構優(yōu)化和硬件上進一步高質設計，減少一些不必要的-客戶在實際使用中并用不上的軟硬件配置，很大程度上節(jié)省了產(chǎn)品的成本費用，使得成本降低20%多，直接讓利給客戶。成為市場上的暢銷型產(chǎn)品。成為很多小型工廠的。在應用上屬于通用型產(chǎn)品，應用于一切材料的ROHS和無鹵檢測，EDX5500對被檢測材料的種類，化學或物理性質都沒有限制，無論是成品，或半成品，無論是金屬，塑膠，皮革，化工，鞋材，合成料，固體，液體，粉末等，都能準確，無損，快速地檢測。EDX5500-ROHS檢測儀器，廣泛應用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產(chǎn)和制造領域環(huán)保臨測。
技術參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）包含ROHS和鹵素的所有元素。可以準確定量。測量時間：200S
配新算法的ROHS分析軟件，鹵素分析軟件，材料成份分析軟件，軟件算法為德國。
檢出限：分析檢出限可達1ppm。含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達135eV準直器：10種準直器自動切換濾光片：6種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

EDX5600是國內(nèi)應用多的一款設備，除了較高的性價比外，其更人性化的設計軟硬件，使其在電子電器，通訊制造，家電配件，塑膠，五金等領域得到了廣泛的應用，采用新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應用上屬于通用型ROHS檢測儀器。
技術參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U） 可以測量包括ROHS鹵素元素外的70多種元素。
有ROHS分析軟件，只針對ROHS六項測試和鹵素元素測試的窗口。一健式操作。
測試時間可人為設置，可短或長。一般測量時間：60S-200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm 檢出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就檢不出來。含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01% 管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：半導體電子制冷探測器，分辨率可達165eV準直器：8種準直器自動切換濾光片：4種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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