天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析，無需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡化測(cè)試手段。
產(chǎn)品特點(diǎn)
快速：一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要1～3分鐘
無損：物理測(cè)量，不改變樣品性質(zhì)
直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然
環(huán)保：檢測(cè)過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水

根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高防護(hù)等級(jí)的需求，特別設(shè)計(jì)該款EDX0B。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。
性能特點(diǎn)
下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

x熒光光譜儀xrf是天瑞儀器公司為合金測(cè)試開發(fā)的儀器類型。
具有測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡單等特點(diǎn)。
同時(shí)具有合金測(cè)試、合得獎(jiǎng)號(hào)分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測(cè)樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.分析樣品無損、快速，針對(duì)未知樣品可以快速分析；
2.可采用小型的XRF設(shè)備進(jìn)行便攜測(cè)試。
3.在保證工作曲線完善和樣品前處理的情況下，其測(cè)試結(jié)果重復(fù)性好、準(zhǔn)確度高。
4.多元素可同時(shí)測(cè)試得出結(jié)果，一次可測(cè)試元素二十多個(gè)以上；
5.可用于生產(chǎn)中的過程內(nèi)部控制，測(cè)試可達(dá)到在線、速度快，快速反應(yīng)生產(chǎn)線等特點(diǎn)。
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的，測(cè)量的時(shí)間越長，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時(shí)候，測(cè)到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測(cè)定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測(cè)量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì)，但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長，則相對(duì)偏差越小，即精度越高。
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