鍍層測厚儀產品詳細資料介紹，鍍層測厚儀配置和產品構造請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供鍍層測厚儀產品原理說明書和產品報價。微米級的金屬鍍層厚度分析通常用到x射線熒光分析技術，由原子外層電子躍遷所產生光譜能量叫x射線熒光，不同金屬的熒光光譜能級不同，從而有了成分分析和厚度分析的基礎。
元素分析范圍：硫（S）～ 鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，5層鍍層 
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：2ppm～99.9%
鍍層厚度：50μm以內（每種材料有所不同） 
任意多個可選擇的分析和識別模型 
相互立的基體效應校正模型 
多變量非線性回收程序 
重復性：可達0.1%
穩(wěn)定性：可達0.1%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源 
外觀尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 
重量：90kg
開放式樣品腔 
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動 
雙激光定位裝置 
鉛玻璃屏蔽罩 
Si-Pin探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
X光管 
高度傳感器 
保護傳感器 
計算機及噴墨打印機

X射線熒光金屬電鍍層厚度測試儀介紹
Thick800A是天瑞集多年的經驗，研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

天瑞儀器thick800a是一款基于X射線熒光分析的鍍層測厚儀。利用X射線熒光的無損分析和現(xiàn)代計算機技術結合，能夠實現(xiàn)全部的金屬鍍層厚度測試。檢測厚度范圍0-50微米，薄至0.005微米。鍍金，鍍銀，鍍鎳，鍍鋅，鍍銅，鍍鉻，Thick800A是天瑞集多年的經驗，研發(fā)用于鍍層行業(yè)的儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。下面我們對這幾類儀器進行介紹。

天瑞X射線膜厚測試儀性能介紹及配置：


此型號為Thick800a



詳細配置信息：


一、硬件：主機壹臺，含下列主要部件：  


(1)  X光管（牛津）           (2)Si-PIN電制冷半導體探測器（美國AMPTEK）  


(3)    信號檢測電子電路        (4)    高精度二維移動平臺


(5)    高清晰攝像頭            (6) 高低壓電源(SPELLMAN)


(7)  開放式樣品腔            (8）雙激光定位裝置


(9)  鉛玻璃屏蔽罩


二、軟件及其他：天瑞X射線膜厚測試儀FpThick分析軟件V1.0


2.1    計算機、打印機各一臺


計算機（聯(lián)想，內存2G,硬盤500G液晶顯示屏19寸）、Intel Pentium G3220*處理器


打印機（佳能，彩色噴墨打印機）


2.2    資料：器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。


2.3    標準附件


 準直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可選其中一種）


（已內置于儀器中）


天瑞X射線膜厚測試儀產品圖片：





     性能描述：
   
      滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護


天瑞X射線鍍層測厚儀使用環(huán)境：


 環(huán)境溫度要求：15℃-30
環(huán)境相對濕度：<70%
工作電源：交流220±5V
周圍不能有強電磁干擾。


天瑞X射線鍍層測厚儀技術指標：



分析元素范圍：K-U


同時可分析多達5層鍍層


分析厚度檢出限高達0.005μm


定位精度：0.1mm


測量時間：5s-300s


計數(shù)率：0-8000cps


Z軸升降范圍：0-140mm


X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)






銅鍍鎳件膜厚儀測試譜圖





樣 品 名


成分Ni(%)


鍍層Ni(um)


吊扣


100


19.321


吊扣2#


100


19.665


吊扣3#


100


18.846


吊扣4#


100


19.302


吊扣5#


100


18.971


吊扣6#


100


19.031


吊扣7#


100


19.146


平均值


100


19.18314


標準偏差


0


0.273409


相對標準偏差


0


1.425257


銅鍍鎳件測試值


分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
測量時間：40秒（可根據(jù)實際情況調整）小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm，儀器重量：30kg


應用領域


X熒光鍍層厚度測試儀廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)。


天瑞儀器對X射線膜厚儀提供的售后服務體系：


軟件免費升級：如有軟件升級，乙方將免費提供升級軟件，如需上門升級按技術服務條款收取相關費用；免費保修1年， 免費保修期內，維修相關費用全免；


技術服務的響應期限：提供有效的技術服務，在接到用戶故障信息后，4小時內響應；如有必要，12～72個小時內派人上門維修和排除故障。


非乙方產品自身故障所造成的現(xiàn)場技術服務（如增加測試功能和數(shù)據(jù)校正等），乙方將按技術服務條款收取相關費用。由甲方人為造成的損傷不在上述保修條款中，具體事例雙方協(xié)商解決。
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業(yè)，注冊資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、邦鑫偉業(yè)技術開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司三家控股子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產和銷售。
 公司被授予 “火炬計劃重點”，“江蘇省”，“江蘇省軟件企業(yè)”，“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”，“江蘇省規(guī)劃布局內重點軟件企業(yè)”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術研究中心”等榮譽稱號。產品具有國際的技術水平，X熒光光譜儀系列產品被認定為“重點新產品”和“江蘇省高新技術產品”。產品品種齊全，為環(huán)境保護與、工業(yè)測試與分析及其它領域提供解決方案。
技術服務車隊，接到客戶問題，迅速上門服務。
售后服務：
公司本著“客戶至上、快捷、誠信務實、價格合理"的經營合作理念,為您提供快速的技術服務。產品送貨上門，培訓安裝，耗材配件，實驗室打包解決方案。
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