ROHS檢測(cè)儀產(chǎn)品詳細(xì)資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測(cè)儀報(bào)價(jià)和配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測(cè)儀報(bào)價(jià)。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測(cè)器的高分辨力，對(duì)元素含量進(jìn)行定性定量測(cè)試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測(cè)試的檢測(cè)光譜儀
優(yōu)化散熱設(shè)計(jì)，散熱效果更好；
內(nèi)置高清攝像頭，準(zhǔn)確的觀察樣品放置位置；
打破傳統(tǒng)儀器直線的設(shè)計(jì)，采用流線體的整體化設(shè)計(jì)，儀器時(shí)尚；
采用探測(cè)器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低；
采用SES信號(hào)增強(qiáng)處理系統(tǒng)，有效提高測(cè)量的靈敏度，讓測(cè)量更；
一鍵式自動(dòng)測(cè)試，使用更簡(jiǎn)單，操作更方便，界面更人性化；
七種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng)，能根據(jù)不同樣品自動(dòng)切換；
一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到較大提高，保證了核心部件的運(yùn)行穩(wěn)定；
機(jī)芯溫度技術(shù)，保證X射線源的可靠運(yùn)行，使用壽命長(zhǎng)，降低使用成本；
多重儀器配件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程, 讓儀器工作更穩(wěn)定；
鹵素用測(cè)試軟件，標(biāo)準(zhǔn)視窗設(shè)計(jì)，操作方便；
本機(jī)采用USB接口，有效地保證了數(shù)據(jù)準(zhǔn)確高速有效的傳輸。

相比之前的傳統(tǒng)的ROHS檢測(cè)儀，雖然它們大多型號(hào)也能在原基礎(chǔ)升級(jí)為鹵素測(cè)試，但需在硬件和軟件上做較大的改動(dòng)，且成本較高，目前市場(chǎng)上的能測(cè)ROHS和鹵素的儀器都是分體式設(shè)計(jì)，成本較高些，而天瑞的EDX1100在算法軟件上，將ROHS測(cè)試和鹵素測(cè)試一體化，兩者化二為一，等于是一個(gè)整體，在產(chǎn)品成本上大大得到了壓縮，也等于是直接讓利了客戶，相比之前分體式設(shè)計(jì)也能同時(shí)檢測(cè)ROHS和鹵素的機(jī)臺(tái)，EDX1100的一體化設(shè)計(jì)，成本至少降低了30%，EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時(shí)，在應(yīng)用上屬于通用于ROHS檢測(cè)儀器，廣泛應(yīng)用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產(chǎn)和制造領(lǐng)域環(huán)保臨測(cè)。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）測(cè)量時(shí)間：200S
檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測(cè)器：SDD探測(cè)器，分辨率可達(dá)125eV準(zhǔn)直器：6種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換濾光片：5種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
分析含量：0.1ppm～99.9%
重復(fù)性：0.1%
穩(wěn)定性：0.1%
環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
儀器配置:
超銳X光源和樣品激發(fā)機(jī)構(gòu) 
上蓋電動(dòng)開(kāi)關(guān)的大容量樣品腔 
可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
Si-PIN探測(cè)器 
信號(hào)檢測(cè)電子電路 
高低壓電源 
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 
X熒光分析軟件

X熒光光譜測(cè)試儀器用于檢測(cè)rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價(jià)Cr以及總Br、Cl等元素含量的儀器，X熒光光譜測(cè)試儀器適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路板，汽車內(nèi)飾，設(shè)備等是否符合歐盟指令標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)儀器。
分析原理：
ROHS檢測(cè)儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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