ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細(xì)資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報(bào)價(jià)和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報(bào)價(jià)。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測器的高分辨力，對元素含量進(jìn)行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
優(yōu)化散熱設(shè)計(jì)，散熱效果更好；
內(nèi)置高清攝像頭，準(zhǔn)確的觀察樣品放置位置；
打破傳統(tǒng)儀器直線的設(shè)計(jì)，采用流線體的整體化設(shè)計(jì)，儀器時(shí)尚；
采用探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低；
采用SES信號增強(qiáng)處理系統(tǒng)，有效提高測量的靈敏度，讓測量更；
一鍵式自動(dòng)測試，使用更簡單，操作更方便，界面更人性化；
七種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng)，能根據(jù)不同樣品自動(dòng)切換；
一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到較大提高，保證了核心部件的運(yùn)行穩(wěn)定；
機(jī)芯溫度技術(shù)，保證X射線源的可靠運(yùn)行，使用壽命長，降低使用成本；
多重儀器配件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過軟件進(jìn)行全程, 讓儀器工作更穩(wěn)定；
鹵素用測試軟件，標(biāo)準(zhǔn)視窗設(shè)計(jì)，操作方便；
本機(jī)采用USB接口，有效地保證了數(shù)據(jù)準(zhǔn)確高速有效的傳輸。

技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
分析含量：0.1ppm～99.9%
重復(fù)性：0.1%
穩(wěn)定性：0.1%
環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
儀器配置:
超銳X光源和樣品激發(fā)機(jī)構(gòu) 
上蓋電動(dòng)開關(guān)的大容量樣品腔 
可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
Si-PIN探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 
X熒光分析軟件

天瑞產(chǎn)品--信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號處理能力25倍以上。
EDX1800B 規(guī)格參數(shù)
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1％（含量96％以上）
長期工作穩(wěn)定性為0.1％（含量96％以上）
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

rohs檢測儀器的原理是利用x射線熒光技術(shù)進(jìn)行元素含量分析的儀器，待測樣品被x射線激發(fā)產(chǎn)生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導(dǎo)體探測技術(shù)可以檢測到熒光值，結(jié)合現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)，通過復(fù)雜的數(shù)學(xué)函數(shù)，算出待測物品的元素含量。
特的激發(fā)X光源
激光X光源、樣品激發(fā)裝置和探測系統(tǒng)，大大提高儀器元素的檢測靈敏度，降低檢出限。
性能、微量X熒光檢出
采用特的光路設(shè)計(jì)和雙引擎設(shè)計(jì)，并結(jié)合使用多組濾片和多組光管激發(fā)材的切換，大大地降低了儀器的信噪比，使該儀器在X熒光設(shè)備中具有的元素檢出限。
大器穩(wěn)重、準(zhǔn)確無損
大樣品腔設(shè)計(jì)，適合于不同大小和形狀的樣品測試。采用了多重信號的電路處理和濾波技術(shù)，使測試更加穩(wěn)定準(zhǔn)確。
自動(dòng)化程度高、高清攝像頭
儀器多組濾片和光路自動(dòng)切換，自動(dòng)升降測試蓋，高清攝像頭。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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