天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析，無需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
解讀RoHS指令和WEEE指令
2003年2月13日，歐盟公布了《關(guān)于報(bào)廢電子電氣設(shè)備的指令》（2002/96/EC,簡(jiǎn)稱WEEE）和《關(guān)于電子 電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)的指令》（2002/95/EC,簡(jiǎn)稱RoHS）,規(guī)定從2005年8月13日起實(shí)施WE EE的生 產(chǎn)者責(zé)任，從2006年7月1日起在相關(guān)電子電器中禁止使用六種有害物質(zhì)。有害物質(zhì)元素 Cd Pb Hg Cr6+ PBBS PBDES  Cl Cl+Br

XRF的篩選X射線熒光光譜儀是公認(rèn)的RoHS篩選檢測(cè)儀器，由于其檢測(cè)速度快、分辨率高、實(shí)施無損檢測(cè)，所以被廣泛采用。熒光光譜儀繁多，以至于分不出誰好誰差了。在《電子信息產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)的檢測(cè)方法》IEC62321標(biāo)準(zhǔn)文本里提到：“用能量散射X射線熒光光譜法（ED－XRF）或波長(zhǎng)散射X射線熒光光譜法（WD－XRF）對(duì)試樣中目標(biāo)物進(jìn)行測(cè)試，可以是直接測(cè)量樣品（不破壞樣品），也可以是破壞樣品使其達(dá)到”均勻材料”（機(jī)械破壞試樣）后測(cè)試?！蹦苷嬲郎?zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，而且能限度地縮小“不確定”部分是好儀器。在保證既定準(zhǔn)確度的情況下盡可能快速檢測(cè)。尤其是企業(yè)選購(gòu)，光譜儀是做日常RoHS監(jiān)督檢測(cè)用，非?？粗剡@一點(diǎn)。所以，能夠準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，又能限度地縮小“不確定”部分，而且全部過程是在短的時(shí)間內(nèi)完成的X射線熒光光譜儀是滿足使用要求的光譜儀

完全滿足于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提供了產(chǎn)品的可靠性
利用新X光管提高儀器的測(cè)試效率，并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高防護(hù)等級(jí)
不添加任何硬件設(shè)施既可升級(jí)分析功能，方便靈活的隨未來發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類
采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低
檢測(cè)時(shí)間短，可以大大提高工作效率

探測(cè)器內(nèi)包含前置放大器與主放大器電路，一體 化設(shè)計(jì)保證儀器有好的穩(wěn)定性和可靠性分辨率底可達(dá)140eV（計(jì)數(shù)率1000/S左右時(shí)
新型的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，保證光管的散熱，提高光管的 使用壽命。高壓5-50KV電流達(dá)至iJ1mA （可根據(jù)客戶要求由軟件設(shè)置）
軟件介紹
支持Windows操作系統(tǒng)，中文版軟件（可安裝英文 軟件）件設(shè)置）
具有技術(shù)管理權(quán)限密碼功能，可以更好的保護(hù)測(cè)試數(shù) 據(jù)不被隨意更改
軟件具有定性分析，自動(dòng)元素識(shí)別功能，方便對(duì)樣品 元素的識(shí)別和定性，并可以打印具有譜圖的定性分析 報(bào)告
可以由軟件自動(dòng)控制切換準(zhǔn)直器和濾光片，減少因人 為更換錯(cuò)誤準(zhǔn)直器，而造成測(cè)量的誤差
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的，測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng)，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時(shí)候，測(cè)到的含量的置信度（可信的程度）是99.87.測(cè)定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測(cè)量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì)，但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng)，則相對(duì)偏差越小，即精度越高。
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