元素范圍從硫到鈾
檢測限1ppm
重復性0.1
測試誤差15
分辨率160ev
X光管0-50kv
電源電壓220V
環(huán)境溫度15-30度
ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細資料和技術(shù)參數(shù)介紹,ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力,對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀,是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
優(yōu)化散熱設(shè)計,散熱效果更好;
內(nèi)置高清攝像頭,準確的觀察樣品放置位置;
打破傳統(tǒng)儀器直線的設(shè)計,采用流線體的整體化設(shè)計,儀器時尚;
采用探測器,電致冷而非液氮制冷,體積小、數(shù)據(jù)分析準確且維護成本低;
采用SES信號增強處理系統(tǒng),有效提高測量的靈敏度,讓測量更;
一鍵式自動測試,使用更簡單,操作更方便,界面更人性化;
七種光路校正準直系統(tǒng),能根據(jù)不同樣品自動切換;
一體化散熱設(shè)計,使整機散熱性能得到較大提高,保證了核心部件的運行穩(wěn)定;
機芯溫度技術(shù),保證X射線源的可靠運行,使用壽命長,降低使用成本;
多重儀器配件保護系統(tǒng),并可通過軟件進行全程, 讓儀器工作更穩(wěn)定;
鹵素用測試軟件,標準視窗設(shè)計,操作方便;
本機采用USB接口,有效地保證了數(shù)據(jù)準確高速有效的傳輸。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè),注冊資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技(仙桃)有限公司、四川天瑞環(huán)境科技有限公司六家全資子公司和江蘇國測檢測技術(shù)有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全資源化有限公司三家控股子公司??偛课挥陲L景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司從事光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準,它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》(Restriction
of Hazardous
Substances)。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器該標準將于2006年7月1日開始正式實施,主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標準,使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護。該標準的目的在于消除電機電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、和醚共6項物質(zhì),并重點規(guī)定了鉛的含量不能超過0.1。其中涉及到的鉛主要出處有以下幾類。
[編輯本段]歐盟RoHS和WEEE指令的基本內(nèi)容
歐盟議會及歐盟會于2003年2月13日在其《公報》上發(fā)布了《廢舊電子電氣》設(shè)備指令(簡稱《WEEE指令》)和《電子電氣功設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》(簡稱《RoHS指令》)
《RoHS指令》和《WEEE指令》規(guī)定納入有害物質(zhì)限制管理和報廢回收管理的有類102種產(chǎn)品,前七類產(chǎn)品都是我國主要的出口電器產(chǎn)品。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器包括大型家用電器、小型家用電器、信息和通訊設(shè)備、消費類產(chǎn)品、照明設(shè)備、電氣電子工具、玩具、休閑和運動設(shè)備、設(shè)備(被植入或被感染的產(chǎn)品除外)、監(jiān)測和控制儀器、自動售賣機。

玩具法規(guī)在全世界范圍內(nèi)不斷完善,如歐盟的《玩具指令》、美國的玩具標準-ASTM F963、ISO中一些關(guān)于玩具標準。這些標準對于玩具企業(yè)來說,執(zhí)行這些標準責無旁貸;至于說到管控成本過高的問題,其實是玩具企業(yè)沒有找到合適的解決方案。
針對玩具檢測設(shè)備,X熒光光譜儀是經(jīng)濟有效的檢測設(shè)備,它自身靈敏、的特征決定了適合生產(chǎn)過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金屬含量測試(鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、汞、硒等)、包裝物料的有毒元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71,測試結(jié)果度高。X熒光光譜儀的檢測結(jié)果可以和化學檢測媲美,還節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導綠色生產(chǎn)過程中必不可少的檢測工具。
分析原理:
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀,其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:
Q=KE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量;K為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù),并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
http://www.smcgdsz.com