ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
rohs檢測儀器的原理是利用x射線熒光技術(shù)進行元素含量分析的儀器，待測樣品被x射線激發(fā)產(chǎn)生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術(shù)可以檢測到熒光值，結(jié)合現(xiàn)代計算機技術(shù)，通過復雜的數(shù)學函數(shù)，算出待測物品的元素含量。
特的激發(fā)X光源
激光X光源、樣品激發(fā)裝置和探測系統(tǒng)，大大提高儀器元素的檢測靈敏度，降低檢出限。
性能、微量X熒光檢出
采用特的光路設(shè)計和雙引擎設(shè)計，并結(jié)合使用多組濾片和多組光管激發(fā)材的切換，大大地降低了儀器的信噪比，使該儀器在X熒光設(shè)備中具有的元素檢出限。
大器穩(wěn)重、準確無損
大樣品腔設(shè)計，適合于不同大小和形狀的樣品測試。采用了多重信號的電路處理和濾波技術(shù)，使測試更加穩(wěn)定準確。
自動化程度高、高清攝像頭
儀器多組濾片和光路自動切換，自動升降測試蓋，高清攝像頭。

X熒光光譜測試儀器用于檢測rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價Cr以及總Br、Cl等元素含量的儀器，X熒光光譜測試儀器適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路板，汽車內(nèi)飾，設(shè)備等是否符合歐盟指令標準的檢測儀器。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè)，注冊資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技（仙桃）有限公司、四川天瑞環(huán)境科技有限公司六家全資子公司和江蘇國測檢測技術(shù)有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全資源化有限公司三家控股子公司?？偛课挥陲L景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司從事光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準，它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》（Restriction
 of Hazardous 
Substances）。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器該標準將于2006年7月1日開始正式實施，主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護。該標準的目的在于消除電機電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、和醚共6項物質(zhì)，并重點規(guī)定了鉛的含量不能超過0.1。其中涉及到的鉛主要出處有以下幾類。
[編輯本段]歐盟RoHS和WEEE指令的基本內(nèi)容
歐盟議會及歐盟會于2003年2月13日在其《公報》上發(fā)布了《廢舊電子電氣》設(shè)備指令（簡稱《WEEE指令》）和《電子電氣功設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》（簡稱《RoHS指令》）
《RoHS指令》和《WEEE指令》規(guī)定納入有害物質(zhì)限制管理和報廢回收管理的有類102種產(chǎn)品，前七類產(chǎn)品都是我國主要的出口電器產(chǎn)品。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器包括大型家用電器、小型家用電器、信息和通訊設(shè)備、消費類產(chǎn)品、照明設(shè)備、電氣電子工具、玩具、休閑和運動設(shè)備、設(shè)備（被植入或被感染的產(chǎn)品除外）、監(jiān)測和控制儀器、自動售賣機。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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