分析范圍0-50微米
分析精度5
較薄測試0.005微米
儀器架構(gòu)上照式
儀器重量90公斤
分析時間30S
測試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高:由于測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測量的可靠性更高。
滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強大,軟件可儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高:相比化學(xué)分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡易:對人員技術(shù)要求較低,操作簡單方便,并且維護(hù)簡單方便。
天瑞儀器一直以來都是以客戶需求為出發(fā)點,解決客戶的后顧之憂。通過此次會議,不僅加強了多方聯(lián)系,獲得面對面交流的機會,同時也提高了用戶的操作水平,解決了用戶在日常操作中遇到的問題,幫助用戶更好的使用儀器。

測厚儀
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
2、性能優(yōu)勢
精密的三維平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
雙重保護(hù)措施,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復(fù)位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果
3、技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1
SDD探測器:分辨率低至eV
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

為了進(jìn)一步促進(jìn)推進(jìn)我國有色金屬化學(xué)元素分析檢測技術(shù)進(jìn)展與產(chǎn)業(yè)升級,促進(jìn)應(yīng)用范圍的不斷加深與擴大,切實解決當(dāng)前本領(lǐng)域內(nèi)關(guān)注的熱點、焦點和難點問題;3月29日—3月31日,由中冶有色技術(shù)平臺、中冶有色技術(shù)網(wǎng)主辦,江蘇天瑞儀器股份有限公司(以下簡稱天瑞儀器)協(xié)辦的“有色金屬化學(xué)元素分析檢測技術(shù)交流會”(以下簡稱交流會)在昆山成功舉行。
2013年4月19日,天瑞連續(xù)第五年蟬聯(lián)“具影響力廠商”,EDX-P730手持式X熒光光譜儀蟬聯(lián)“年度受關(guān)注儀器”。
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