天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷(xiāo)售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說(shuō)明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析，無(wú)需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
熒光光譜儀是一種波長(zhǎng)較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺(tái)式x熒光光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征，通過(guò)側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。
特征臺(tái)式x熒光光譜儀的產(chǎn)生與特性當(dāng)用高能電子束照射樣品時(shí)，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負(fù)的加速度會(huì)產(chǎn)生寬帶的連續(xù)X射線譜，簡(jiǎn)稱(chēng)為連續(xù)潛或韌致。另一方面，化學(xué)元素受到高能光子或粒子的照射，如內(nèi)層電子被激發(fā)，則當(dāng)外層電子躍遷時(shí)，會(huì)放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續(xù)譜。如果激發(fā)光源為x射線，則受激產(chǎn)生的x射線稱(chēng)為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產(chǎn)生的過(guò)程。

探測(cè)器內(nèi)包含前置放大器與主放大器電路，一體 化設(shè)計(jì)保證儀器有好的穩(wěn)定性和可靠性分辨率底可達(dá)140eV（計(jì)數(shù)率1000/S左右時(shí)
新型的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，保證光管的散熱，提高光管的 使用壽命。高壓5-50KV電流達(dá)至iJ1mA （可根據(jù)客戶要求由軟件設(shè)置）
軟件介紹
支持Windows操作系統(tǒng)，中文版軟件（可安裝英文 軟件）件設(shè)置）
具有技術(shù)管理權(quán)限密碼功能，可以更好的保護(hù)測(cè)試數(shù) 據(jù)不被隨意更改
軟件具有定性分析，自動(dòng)元素識(shí)別功能，方便對(duì)樣品 元素的識(shí)別和定性，并可以打印具有譜圖的定性分析 報(bào)告
可以由軟件自動(dòng)控制切換準(zhǔn)直器和濾光片，減少因人 為更換錯(cuò)誤準(zhǔn)直器，而造成測(cè)量的誤差

EDX1800B性能特點(diǎn)
下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求；
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用；
平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)；
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性；
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。

分辨率：
采用硅漂移探測(cè)器 ，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測(cè)鉑金中銥和金的含量。
度，性能優(yōu)：
使用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù)，提高分析速度，總體提高系統(tǒng)處理能力，計(jì)數(shù)率可達(dá)8萬(wàn)，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭，定位：
采用新型工業(yè)級(jí)相機(jī)，樣品圖像更加清晰，輕松實(shí)現(xiàn)定位。
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說(shuō)，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的，測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng)，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量，稱(chēng)為檢出限（或叫檢出限）。這時(shí)候，測(cè)到的含量的置信度（可信的程度）是99.87.測(cè)定檢出，一般要用含量比較低的樣品來(lái)測(cè)量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì)，但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng)，則相對(duì)偏差越小，即精度越高。
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