分析范圍0-50微米
分析精度5
較薄測(cè)試0.005微米
儀器架構(gòu)上照式
儀器重量90公斤
分析時(shí)間30S
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,放射測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng):
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

昆山市市場(chǎng)局通過(guò)走訪座談、問(wèn)卷調(diào)查等方式,篩選了多家企業(yè),選取了天瑞儀器作為商業(yè)秘密示范點(diǎn)建設(shè)單位。會(huì)上,市場(chǎng)局就我公司成為昆山商業(yè)秘密保護(hù)示范點(diǎn)給予了充分肯定和高度評(píng)價(jià),并為構(gòu)建完善的商業(yè)秘密保護(hù)系統(tǒng)提出了寶貴的意見(jiàn)和建議,旨在進(jìn)一步加強(qiáng)對(duì)商業(yè)秘密的管理,以促進(jìn)我公司健康、穩(wěn)步、飛躍發(fā)展。

天瑞儀器一直以來(lái)都是以客戶需求為出發(fā)點(diǎn),解決客戶的后顧之憂。通過(guò)此次會(huì)議,不僅加強(qiáng)了多方聯(lián)系,獲得面對(duì)面交流的機(jī)會(huì),同時(shí)也提高了用戶的操作水平,解決了用戶在日常操作中遇到的問(wèn)題,幫助用戶更好的使用儀器。

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2013年11月7日,時(shí)任國(guó)家環(huán)保部總?cè)f本太來(lái)天瑞參觀,對(duì)天瑞儀器引領(lǐng)國(guó)產(chǎn)儀器的發(fā)展贊譽(yù)有加。
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