該款光譜儀操作簡單、維護(hù)方便，利用衍射光柵對光譜進(jìn)行測量，波長范圍覆蓋600～1700nm，波長分辨率在0.02～2.0nm之間，小接收靈敏度為-90dBm，并可依靠橫河特有技術(shù)在0.2秒內(nèi)完成對100nm的掃描。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
對目前一些新的測試需要增加以下測量分析功能：
1.數(shù)據(jù)日志功能
對WDM、DFB-LD、標(biāo)記等多種數(shù)據(jù)的分析按照預(yù)設(shè)的時(shí)間進(jìn)行掃描，記錄相關(guān)分析結(jié)果的變化以及各個時(shí)間點(diǎn)的光譜。
2.門控采樣功能
在仿真超長距離傳輸?shù)沫h(huán)路實(shí)驗(yàn)中，接收實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的門控，對特定的光譜進(jìn)行掃描測量。
3.分辨率校正功能
利用窄線寬光源對OSA的分辨進(jìn)行校正，改善對寬譜光源功率密度測試的精度。
4.標(biāo)記功能
優(yōu)化以前標(biāo)記點(diǎn)的功率讀取功能，可以直接對標(biāo)記點(diǎn)為中心的波長范圍內(nèi)的積分功率進(jìn)行讀取，應(yīng)用于各類OSNR的測量分析。

采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000s是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優(yōu)選擇。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補(bǔ)充配置

儀器體積小巧，對實(shí)驗(yàn)室空間要求低

全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護(hù)簡單、方便，對人員要求低

原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)，適用合齊全

配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測試過程安全、環(huán)保

 

技術(shù)優(yōu)勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。

全譜檢測全面測試各種金屬和元素

基于CCD檢測器全譜測試技術(shù)，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測試。

配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素、分析程序。

 

國際供應(yīng)商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

 

光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除維護(hù)，平時(shí)保養(yǎng)一般不需進(jìn)行描跡。

同時(shí)檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。

 

快速同時(shí)分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預(yù)處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結(jié)果。

可根據(jù)客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

 

的測試方案

長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

 

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70

電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實(shí)驗(yàn)室無震動、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

光譜分析儀是一種用于測量發(fā)光體的輻射光譜，即發(fā)光體本身的指標(biāo)參數(shù)的儀器。廣泛應(yīng)用于科研、教學(xué)、工業(yè)等多領(lǐng)域。CNI提供、、軟件分析等產(chǎn)品。
光譜分析儀的優(yōu)點(diǎn)：
1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。
2.測試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集，并通過計(jì)算器實(shí)時(shí)輸出。
3.對于一些機(jī)械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進(jìn)行無損檢測。
4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析，從而達(dá)到快速檢測。
5.分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。
光譜分析儀的缺點(diǎn)：
1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準(zhǔn)確檢測。
2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結(jié)果不能做為認(rèn)證依據(jù)。
3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對壟斷的因素，購買和維護(hù)成本都比較高，性價(jià)比較低。
4.需要大量代表性樣品進(jìn)行化學(xué)分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實(shí)際。
5.模型需要不新，在儀器發(fā)生變化或者標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時(shí)，模型也要變化。
6.建模成本很高，素分析儀測試成本也就比較大了，當(dāng)然對于大量樣品檢測時(shí)，測試成本會下降。
7.易受光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)等外部或內(nèi)部因素影響，經(jīng)常出現(xiàn)曲線非線性問題，對檢測結(jié)果的準(zhǔn)確度影響較大。

根據(jù)現(xiàn)代光譜儀器的工作原理，光譜儀可以分為兩大類：經(jīng)典光譜儀和新型光譜儀。經(jīng)典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器：新型光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器。經(jīng)典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調(diào)制光譜儀是非空間分光的，它采用圓孔進(jìn)光根據(jù)色散組件的分光原理，光譜儀器可分為：棱鏡光譜儀，衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀。
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