技術(shù)性能及指標(biāo)

1.   分光室設(shè)計

  帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm

  波長范圍140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒溫33℃±0.2℃

  特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

  間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運行時間小于5

2.   凹面光柵

  刻線密度3600l/mm

  一級光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

  高性能線陣CMOS

4.   分析時間

  依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

  全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)

  高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)

  頻率100-1000Hz

  電流1-80A

6.   激發(fā)臺

  3mm樣品臺分析間隙

  噴射電極技術(shù)

  特殊設(shè)計的氣路系統(tǒng)，保證氬氣消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 長900mm 寬600 mm

  120 kg

8.   功率

  功率0W

  待機(jī)功率70W

光學(xué)多道OMA（OpTIcal MulTI-channel Analyzer）是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測器（CCD）和計算機(jī)控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率：使用OMA分析光譜，測盆準(zhǔn)確迅速，方便，且靈敏度高，響應(yīng)時間快，光譜分辨率高，測量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機(jī)，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，特別適應(yīng)于對微弱信號，瞬變信號的檢測。

采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實驗室放置。OES8000s是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優(yōu)選擇。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補(bǔ)充配置

儀器體積小巧，對實驗室空間要求低

全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護(hù)簡單、方便，對人員專業(yè)要求低

原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)，適用合齊全

配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測試過程安全、環(huán)保

 

技術(shù)優(yōu)勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗、產(chǎn)品分選多方面檢驗需求，是生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。

全譜檢測全面測試各種金屬和元素

基于CCD檢測器全譜測試技術(shù)，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現(xiàn)多基體、多元素的測試。

配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素、分析程序。

 

國際供應(yīng)商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

 

光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除特殊維護(hù)，平時保養(yǎng)一般不需進(jìn)行描跡。

同時檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。

 

快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預(yù)處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結(jié)果。

可根據(jù)客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

 

專業(yè)的測試方案

長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

 

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70

電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實驗室無震動、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

原子發(fā)射光譜分析是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來測定物質(zhì)的化學(xué)組分的。不同物質(zhì)由不同元素的原子所組成，而原子都包含著一個結(jié)構(gòu)緊密的原子核，核繞著不斷運動的電子。每個電子處于一定的能級上，具有一定的能量。在正常的情況下，原子處于穩(wěn)定狀態(tài)，它的能量是的，這種狀態(tài)稱為基態(tài)。但當(dāng)原子受到能量（如熱能、電能等）的作用時，原子由于與高速運動的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量，使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級上，處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位，當(dāng)外加的能量足夠大時，原子中的電子脫離原子核的束縛力，使原子成為離子，這種過程稱為電離。原子失去一個電子成為離子時所需要的能量稱為一級電離電位。離子中的外層電子也能被激發(fā)，其所需的能量即為相應(yīng)離子的激發(fā)電位。處于激發(fā)態(tài)的原子是十分不穩(wěn)定的，在極短的時間內(nèi)便躍遷至基態(tài)或其它較低的能級上。
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