直讀光譜儀OES6000采用CCD檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES6000專注于有色金屬測試，是有色金屬材料元素測試的理想儀器。
全譜分析技術，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補充配置
儀器體積小巧，對實驗室空間要求低
全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測試速度快，單次測試過程少于30秒
儀器使用和維護簡單、方便，對人員專業(yè)要求低
原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)，適用合齊全
配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正
不使用化學試劑，測試過程安全、環(huán)保

技術性能及參數(shù)

1.分光室設計
帕邢-龍格結構
恒溫控制（34℃±0.5℃）
特殊材質鑄造，保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600 l/mm
一級光譜線色散率：1.2 nm/mm
波長范圍200-500nm
3.檢測器
高性能線陣CCD
4.分析時間
依樣品種類而不同，一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術
高能預燃技術 (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺
4mm樣品臺分析間隙
噴射電極技術
無待機流量，低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高300mm 長 500mm 寬 450mm
30 kg
8.功率
功率700 W
待機功率40 W

工作條件

工作溫度：15-30℃
相對濕度：≤70
電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體

輔助設備

高純氬氣——純度99.999以上
交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
光譜磨樣機——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調——依實驗室面積配置匹配功率

技術優(yōu)勢

無需抽真空的光室
直讀光譜儀OES6000采用空氣光室設計，剔除真空泵。光室完全無油污污染源，儀器性能更穩(wěn)定；維護更方便，無真空泵運行消耗電力。
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現(xiàn)多基體、多元素的測試。
配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。
專業(yè)的測試方案
長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。
分析程序由原廠采用國際、標準樣品校準，經專業(yè)儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。
國際供應商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測器——光電倍增管由日本Toshiba制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲
光學鏡片——德國Zeiss制造，光纖——美國Agilent制造
的光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內恒溫。
由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。同時光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定。

應用領域

金屬材料元素含量測試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機械行業(yè)的研發(fā)、生產控制、質量檢驗等相關工作的傳統(tǒng)測試項目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩(wěn)定、同時測試幾十種分析元素, 滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進料檢驗、產品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀測試金屬材料元素含量便捷、環(huán)保、低成本，使研發(fā)、生產的過程和質量更可控，幫助用戶提升產品的技術、質量水平；同時加速相關流程，為用戶創(chuàng)造明顯的經濟效益和環(huán)保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業(yè)技術和質量水平的標志性設備。

該款光譜儀操作簡單、維護方便，利用衍射光柵對光譜進行測量，波長范圍覆蓋600～1700nm，波長分辨率在0.02～2.0nm之間，小接收靈敏度為-90dBm，并可依靠橫河特有技術在0.2秒內完成對100nm的掃描。
產品特點：
對目前一些新的測試需要增加以下測量分析功能：
1.數(shù)據(jù)日志功能
對WDM、DFB-LD、標記等多種數(shù)據(jù)的分析按照預設的時間進行掃描，記錄相關分析結果的變化以及各個時間點的光譜。
2.門控采樣功能
在仿真超長距離傳輸?shù)沫h(huán)路實驗中，接收實驗系統(tǒng)的門控，對特定的光譜進行掃描測量。
3.分辨率校正功能
利用窄線寬光源對OSA的分辨進行校正，改善對寬譜光源功率密度測試的精度。
4.標記功能
優(yōu)化以前標記點的功率讀取功能，可以直接對標記點為中心的*波長范圍內的積分功率進行讀取，應用于各類OSNR的測量分析。

技術性能及指標

1.   分光室設計

  帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm

  波長范圍140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒溫33℃±0.2℃

  特殊材質鑄造，保證光室形變小

  間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運行時間小于5

2.   凹面光柵

  刻線密度3600l/mm

  一級光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

  高性能線陣CMOS

4.   分析時間

  依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

  全數(shù)字等離子火花光源技術

  高能預燃技術 (HEPS)

  頻率100-1000Hz

  電流1-80A

6.   激發(fā)臺

  3mm樣品臺分析間隙

  噴射電極技術

  特殊設計的氣路系統(tǒng)，保證氬氣消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 長900mm 寬600 mm

  120 kg

8.   功率

  功率0W

  待機功率70W

當原子從較高能級躍遷到基態(tài)或其它較低的能級的過程中，將釋放出多余的能量，這種能量是以一定波長的電磁波的形式輻射出去的，其輻射的能量可用下式表示：（1）E2、E1分別為高能級、低能級的能量，h為普朗克（Planck）常數(shù)；v及λ分別為所發(fā)射電磁波的頻率及波長，c為光在真空中的速度。
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