膜厚儀主要性能優(yōu)勢：
采用極速探測器技術(shù)；
探測信噪比更強(qiáng)，檢出限更低；
采用大功率X光管及先進(jìn)的數(shù)字多道技術(shù)；
光閘系統(tǒng)，提高測試效率與測試精度；
精密的定位系統(tǒng)，更清晰的顯示測試點；
多點測試，多點連續(xù)測試超小樣品檢測；
人性化的設(shè)計：更安全、更快捷：預(yù)約預(yù)熱：預(yù)約關(guān)機(jī)。
X射線膜厚儀器產(chǎn)品介紹
X射線膜厚儀器服務(wù)江蘇天瑞儀器股份有限公司專業(yè)生產(chǎn)X射線莫厚儀器。Thick800A能夠在幾十秒的時間實現(xiàn)金屬電鍍層的厚度檢測，比傳統(tǒng)的電解式測厚儀具有更好的測試效率和分析精度，目前已經(jīng)成為電鍍加工企業(yè)，首飾加工行業(yè)，PCB電路板工業(yè)，五金件加工，緊固件表面，汽車部件廠家，通信連接件等生產(chǎn)企業(yè)，解決膜厚測試的標(biāo)準(zhǔn)分析方法。
X射線膜厚儀圖片：
技術(shù)指標(biāo)：
X射線光管：
管壓：5-50kV
管流：0-1
材：W
窗口：鈹窗
制冷方式：風(fēng)冷
工作溫度：≤75℃
高壓發(fā)生器：
輸入電壓：24V
輸入電流：5A
管壓：0-50kV
管流：0-2
燈絲電壓：5V
燈絲電流：3.5A
SDD半導(dǎo)體探測器：
探測器輸入電壓：±12V，+5V
探頭窗口面積：25mm 2
探頭窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃
自動對焦系統(tǒng)：
通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器
實現(xiàn)樣品高度的自動對焦。
MCA多道分析器：
輸入電壓：±12V，+5V
采樣頻率：100 KHZ
脈沖幅度：0-7.6V
A/D位數(shù)：12位
分析道數(shù)：2048道
準(zhǔn)直器系統(tǒng)：
準(zhǔn)直器：Ø0.1 mm(可根據(jù)要求選配)
濾光片：Mo(可根據(jù)要求選配)
高清晰攝像頭：
傳感器類型：CCD（彩色）
接口：U2.0
傳感器廠商：索尼
快門類型：面陣
光學(xué)尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）
顏色排列：RGB
幀率：30fps
快門速度：1/1538-1/30（秒）
儀器尺寸：
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制
檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。
樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm
范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm
X射線膜厚儀能滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求。高精度平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。鼠標(biāo)可控制平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點。高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護(hù)。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)能量色散X射線膜厚儀的高科技公司，成立于1992年，是國內(nèi)在創(chuàng)業(yè)板上市的家高科技分析儀器公司。主營產(chǎn)品X射線膜厚儀thick800a曾于2011年榮獲科學(xué)儀器產(chǎn)品獎， 產(chǎn)品符合計量合格要求。提供完善的售后服務(wù)：
1，所出售本合同所規(guī)定的儀器進(jìn)行終身維修，免費(fèi)提供升級軟件。
2，提供有效的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，4小時內(nèi)響應(yīng)；如有必要，12～72個小時內(nèi)派人維修和排除故障。
3，負(fù)責(zé)培訓(xùn)操作人員，培訓(xùn)內(nèi)容為儀器分析原理、結(jié)構(gòu)、操作、維護(hù)保養(yǎng)、簡單維修、軟件使用、方法建立、樣品測試等。
膜厚儀磁感應(yīng)測量原理
采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該放大后來指示覆層厚度。一些電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量。還采用專利設(shè)計的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1，量程達(dá)10mm。
磁性原理測厚儀可應(yīng)用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
膜厚儀的使用
測定準(zhǔn)備
（1）確保電池正負(fù)極方向正確無誤后設(shè)定。
（2）探頭的選擇和設(shè)定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準(zhǔn)測定對象，在本體上進(jìn)行設(shè)定。
測定方法
（1）探頭的選擇和安裝方法：確認(rèn)電源處于OFF狀態(tài)，與測定對象的質(zhì)地材質(zhì)接觸，安裝LEP-J或LHP-J。
（2）調(diào)整：確認(rèn)測定對象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時要進(jìn)行調(diào)整。
（3）測定：在探頭的末端加一定的負(fù)荷，即使用[一點接觸定壓式]。抓住與
測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定，每次都
要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續(xù)測定平面時，如果采用探頭適配器，可以更加穩(wěn)定地進(jìn)行測定。
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