膜厚儀
膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀，分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
X射線膜厚儀器產(chǎn)品介紹
X射線膜厚儀器服務(wù)江蘇天瑞儀器股份有限公司專業(yè)生產(chǎn)X射線莫厚儀器。Thick800A能夠在幾十秒的時(shí)間實(shí)現(xiàn)金屬電鍍層的厚度檢測(cè)，比傳統(tǒng)的電解式測(cè)厚儀具有更好的測(cè)試效率和分析精度，目前已經(jīng)成為電鍍加工企業(yè)，首飾加工行業(yè)，PCB電路板工業(yè)，五金件加工，緊固件表面，汽車部件廠家，通信連接件等生產(chǎn)企業(yè)，解決膜厚測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)分析方法。
X射線膜厚儀圖片：
技術(shù)指標(biāo)：
X射線光管：
管壓：5-50kV
管流：0-1
材：W
窗口：鈹窗
制冷方式：風(fēng)冷
工作溫度：≤75℃
高壓發(fā)生器：
輸入電壓：24V
輸入電流：5A
管壓：0-50kV
管流：0-2
燈絲電壓：5V
燈絲電流：3.5A
SDD半導(dǎo)體探測(cè)器：
探測(cè)器輸入電壓：±12V，+5V
探頭窗口面積：25mm 2
探頭窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃
自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)：
通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器
實(shí)現(xiàn)樣品高度的自動(dòng)對(duì)焦。
MCA多道分析器：
輸入電壓：±12V，+5V
采樣頻率：100 KHZ
脈沖幅度：0-7.6V
A/D位數(shù)：12位
分析道數(shù)：2048道
準(zhǔn)直器系統(tǒng)：
準(zhǔn)直器：Ø0.1 mm(可根據(jù)要求選配)
濾光片：Mo(可根據(jù)要求選配)
高清晰攝像頭：
傳感器類型：CCD（彩色）
接口：U2.0
傳感器廠商：索尼
快門類型：面陣
光學(xué)尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）
顏色排列：RGB
幀率：30fps
快門速度：1/1538-1/30（秒）
儀器尺寸：
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊測(cè)試時(shí)，可開蓋，對(duì)樣品長(zhǎng)度無限制
檢測(cè)開槽口時(shí)，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。
樣品臺(tái)尺寸：230(W)×210(D)mm
范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
Z軸升降平臺(tái)升降范圍：0-140mm
X射線膜厚儀能滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求，φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求。高精度平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度，定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊。鼠標(biāo)可控制平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)。高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。良好的射線屏蔽作用，測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)能量色散X射線膜厚儀的高科技公司，成立于1992年，是國(guó)內(nèi)在創(chuàng)業(yè)板上市的家高科技分析儀器公司。主營(yíng)產(chǎn)品X射線膜厚儀thick800a曾于2011年榮獲科學(xué)儀器產(chǎn)品獎(jiǎng)， 產(chǎn)品符合計(jì)量合格要求。提供完善的售后服務(wù)：
1，所出售本合同所規(guī)定的儀器進(jìn)行終身維修，免費(fèi)提供升級(jí)軟件。
2，提供有效的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有必要，12～72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人維修和排除故障。
3，負(fù)責(zé)培訓(xùn)操作人員，培訓(xùn)內(nèi)容為儀器分析原理、結(jié)構(gòu)、操作、維護(hù)保養(yǎng)、簡(jiǎn)單維修、軟件使用、方法建立、樣品測(cè)試等。
專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及平臺(tái)。是功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
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X射線熒光鍍層測(cè)厚儀Thick800A可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試
技術(shù)指標(biāo)
型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
Thick800A金屬測(cè)厚儀比其他品牌優(yōu)勢(shì)：
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
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