采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000s是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優(yōu)選擇。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補(bǔ)充配置

儀器體積小巧，對實(shí)驗(yàn)室空間要求低

全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護(hù)簡單、方便，對人員專業(yè)要求低

原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)，適用合齊全

配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測試過程安全、環(huán)保



技術(shù)優(yōu)勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求，是生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。

全譜檢測全面測試各種金屬和元素

基于CCD檢測器全譜測試技術(shù)，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測試。

配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素、分析程序。



國際供應(yīng)商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲



光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除特殊維護(hù)，平時(shí)保養(yǎng)一般不需進(jìn)行描跡。

同時(shí)檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。



快速同時(shí)分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預(yù)處理樣品置于樣品臺(tái)后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結(jié)果。

可根據(jù)客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。



專業(yè)的測試方案

長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。



工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70

電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實(shí)驗(yàn)室無震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

近紅外光譜分析儀產(chǎn)品簡介

近紅外光譜分析儀采用全息數(shù)字式光柵和高靈敏度銦鎵砷檢測器（TEC制冷恒溫）相結(jié)合的光學(xué)設(shè)計(jì)，基于漫反射方式進(jìn)行樣品分析，波長范圍覆蓋1000-2500nm。通過外置電腦和RIMP軟件實(shí)現(xiàn)固體顆粒、片狀、粉末樣品中一些物理和化學(xué)成分的無損快速檢測。近紅外光譜分析儀整套系統(tǒng)操作簡單，只需要將樣品盤放在樣品臺(tái)上，點(diǎn)擊測量，儀器自動(dòng)完成測量分析。近紅外光譜分析儀在飼料生產(chǎn)、糧油加工、谷物收購、育種研究等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

近紅外光譜分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)
操作簡單，無需特殊培訓(xùn)，無需樣品前處理，不破壞樣品。
分析速度快，一分鐘內(nèi)同時(shí)檢測出多個(gè)指標(biāo)，如水分、脂肪、蛋白、纖維、灰分、等指標(biāo)。
適合多種樣品形式，如顆粒、片狀和粉末，并且裝樣簡單、方便。
采用先進(jìn)的光柵掃描光譜技術(shù)和銦鎵砷檢測器，保證儀器穩(wěn)定性和更好的信噪比。
旋轉(zhuǎn)樣品盤測樣方式，可增強(qiáng)不均勻樣品的代表性、提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
儀器內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，具有自動(dòng)診斷和故障提示功能。
光源采用自準(zhǔn)直模塊設(shè)計(jì)，無需調(diào)節(jié)，輕松實(shí)現(xiàn)光源更換。
多臺(tái)儀器間能夠進(jìn)行良好的模型傳遞。
全中文界面，操作簡單及將儀器操作、建模和數(shù)據(jù)處理整合一體的專業(yè)軟件。
支持網(wǎng)絡(luò)連接功能，方便儀器日常維護(hù)和模型升級服務(wù)。

旋轉(zhuǎn)樣品盤設(shè)計(jì)—檢測更 光源更換操作簡便快捷
應(yīng)用領(lǐng)域
飼料行業(yè) 油脂加工 谷物交易 育種研究

光譜分析儀是一種用于測量發(fā)光體的輻射光譜，即發(fā)光體本身的指標(biāo)參數(shù)的儀器。廣泛應(yīng)用于科研、教學(xué)、工業(yè)等多領(lǐng)域。CNI提供、、軟件分析等產(chǎn)品。
光譜分析儀的優(yōu)點(diǎn)：
1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。
2.測試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集，并通過計(jì)算器實(shí)時(shí)輸出。
3.對于一些機(jī)械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進(jìn)行無損檢測。
4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析，從而達(dá)到快速檢測。
5.分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。
光譜分析儀的缺點(diǎn)：
1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準(zhǔn)確檢測。
2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結(jié)果不能做為認(rèn)證依據(jù)。
3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對壟斷的因素，購買和維護(hù)成本都比較高，性價(jià)比較低。
4.需要大量代表性樣品進(jìn)行化學(xué)分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實(shí)際。
5.模型需要不斷更新，在儀器發(fā)生變化或者標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時(shí)，模型也要變化。
6.建模成本很高，素分析儀測試成本也就比較大了，當(dāng)然對于大量樣品檢測時(shí)，測試成本會(huì)下降。
7.易受光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)等外部或內(nèi)部因素影響，經(jīng)常出現(xiàn)曲線非線性問題，對檢測結(jié)果的準(zhǔn)確度影響較大。

技術(shù)性能及指標(biāo)

1. 分光室設(shè)計(jì)

帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm

波長范圍140 – 680nm

像素分辨率10pm

恒溫33℃±0.2℃

特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運(yùn)行時(shí)間小于5

2. 凹面光柵

刻線密度3600l/mm

一級光譜線色散率：1.04 nm/mm

3. 檢測器

高性能線陣CMOS

4. 分析時(shí)間

依樣品種類而不同，一般少于40秒

5. 激發(fā)光源

全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)

高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)

頻率100-1000Hz

電流1-80A

6. 激發(fā)臺(tái)

3mm樣品臺(tái)分析間隙

噴射電極技術(shù)

特殊設(shè)計(jì)的氣路系統(tǒng)，保證氬氣消耗

7. 尺寸和重量

高450mm 長900mm 寬600 mm

120 kg

8. 功率

功率0W

待機(jī)功率70W

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