更準確的檢測結果是天瑞人堅持不懈的追求，同時天瑞人還時刻牢記為客戶提供更優(yōu)質的服務。全新開發(fā)研制的EDX 9000正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用分析儀器行業(yè)先進的極速探測器技術（X-SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000還采用了天瑞儀器專利產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設計自動樣品平臺讓準確檢測得到保證。

性能優(yōu)勢

快—1秒鐘出結果
采用行業(yè)先進的極速探測器技術——（X-SDD）分辨率至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內(nèi)接受信息多、計數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
采用行業(yè)先進的數(shù)字多道技術
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實現(xiàn)超高計數(shù)率，保證采集有效計數(shù)率可達1000Wcps
采用大功率X光管及先進的準直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢：激發(fā)效率更高
光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點
多點測試
2D全自動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
人性化的設計
更安全：X射線聯(lián)動安全裝置——光閘與聯(lián)動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據(jù)設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài)；同時可以實現(xiàn)預約關機，
關機前可設定聲光提示

技術參數(shù)

測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩(wěn)定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換
濾光片：4種濾光片切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70
環(huán)境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
天瑞儀器公司是全球專業(yè)生產(chǎn)高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺式X熒光合金分析儀EDX3600H,融匯全球的合金分析技術，配備合金測試效果的智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。



EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。

性能特點:

高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
針對合金的測試而開發(fā)的專用配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制；
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

標準配置：

合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
信噪比增強器 SNE
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

技術指標：

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
分析精度：0.05（含量高于96以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性）
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA

應用領域：

檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品

產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
鋼鐵行業(yè)測試專用配件
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

國產(chǎn)xrf光譜儀介紹

EDX4500 國產(chǎn)X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、材料中元素的快速、準確分析。
該技術的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率：采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

性能特點

專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

技術指標

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99
同時分析元素：24種元素同時分析
功能范圍：水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析
分析精度：0.05 （對含量96以上元素）
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測量時間：60s—200s
能量分辨率為：（±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA

標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
外觀尺寸： 650×608×466 mm
樣品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg

高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去

測試高爐渣、生鐵、燒結礦、球團礦、白云石、膨潤土、石灰石、普硅等，還可以廣泛應用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。

ICP測試儀和XRF測試儀哪個更適合?選ICP測試儀還是XRF測試儀?這恐怕對于工作內(nèi)容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實驗員來說，是很容易出現(xiàn)的疑問了。如果從購置價格、使用成本和方便程度、分析結果可靠性等幾個方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測試儀除了被用來進行材料表面的定性檢測，可用來測量元素的總含量嗎?準確嗎?ICP測試儀檢測是僅僅對元素進行表面定性分析嗎?它跟XRF測試儀有什么區(qū)別?針對這些疑問，看看七嘴八舌的們?nèi)绾握f?你挺誰?XRF測試儀不但在元素定性上有ICP測試儀無可比擬的優(yōu)點，同時在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關)。所以這條上應該是XRF測試儀和ICP測試儀都可以定量。A：XRF測試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測試儀，樣品需要進行化學處理為溶液。對于XRF測試儀來說，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應會比較嚴重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過形成的是一種固體溶液。而ICP測試儀毫無疑問必須溶成溶液。B：XRF測試儀可以迅速定性，元素定性方面無人能比，像紅外在有機官能團定性一樣迅速。定量方面，相比看來ICP測試儀定量較為簡單實在，易于操作。XRF測試儀做標樣和樣品處理需要配套的制樣設備，包括壓片機和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測試儀不能定量的結論，相對于測純金屬、合金含量分析，我認為XRF測試儀是比ICP測試儀更合適!我們實驗室就是把XRF測試儀+ICP測試儀配合起來用，利用XRF測試儀定性優(yōu)勢配合ICP測試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個要看你的待測組分的含量和你的測試要求了，畢竟這兩臺儀器的各有各的優(yōu)勢和缺點。我建議買一臺EDXRF測試儀就夠了，能快速無損定性半定量。你送出去測試前做一次心里有個底，找個靠譜的通過CNAS認證的實驗室做一下，基本問題不會很大，真的要購買儀器的話這個真心沒有底。有的公司就為了測催化劑中的氯買了一臺40W美元的WDXRF測試儀。D：請果斷選擇ICP測試儀，雖然價格和使用程度上來說相對困難，但是結果可靠性比XRF測試儀高出光年倍。E：XRF測試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結果沒有ICP測試儀好，就算有標樣進行校正也存在誤差;但是ICP測試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測液體中的金屬離子含量用ICP測試儀當然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測不出來，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會增大，這個要看你要求的測量精度了!G：都很準的啊，但看具體元素了，一般XRF測試儀主要測固體粉末，ICP測試儀測能溶的固體和液體!H：XRF測試儀是檢測物質中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測試儀一般應用于溶液中化合物離子的含量分析。多數(shù)認為XRF測試儀在表面化學分析方面很準，但是必須購買對應的標準品，用來繪制標準曲線。此外，XRF測試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結果的準確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測試儀測溶液中的PPM級的元素含量。如果保證操作得當、曲線配置好的話，結果也會相當準。所以說沒有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點，您應該知道自己在面對ICP測試儀和XRF測試儀時該選擇哪種方法了吧!


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