元素范圍從硫到鈾
含量范圍1ppm-99
分析時間30s-200s
誤差15
重復(fù)性0.1
電源電壓220V
溫度15-30度
重量45kg
預(yù)熱時間20分鐘
用途rohs物質(zhì)分析
天瑞x射線測厚儀產(chǎn)品詳細資料介紹,天瑞x射線測厚儀技術(shù)參數(shù)和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供x射線測厚儀thick800a
原理講解和產(chǎn)品說明:利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),達到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加。

金屬測厚儀使用注意事項
超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量,如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類??梢詫Ω鞣N板材和加工零件作測量,另一重要方面是可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進行監(jiān)測,監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、、航各個領(lǐng)域。
1)工件表面粗糙度過大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無法接收到回波。對于表面銹蝕,耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面進行處理,降低粗糙度,同時也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬,使探頭與被檢物通過耦合劑能達到很好的耦合效果。
(2)工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測厚時,因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點接觸或線接觸,聲強透射率低(耦合不好)??蛇x用小管徑專用探頭(6mm),能較的測量管道等曲面材料。
(3)檢測面與底面不平行,聲波遇到底面產(chǎn)生散射,探頭無法接受到底波。
(4)鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大,超聲波在其中穿過時產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減,被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播,有可能使回波湮沒,造成不顯示。可選用頻率較低的粗晶專用探頭(2.5MHz)。
(5)探頭接觸面有一定磨損。常用測厚探頭表面為丙烯樹脂,長期使用會使其表面粗糙度增加,導(dǎo)致靈敏度下降,從而造成顯示不正確??蛇x用500#砂紙打磨,使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定,則考慮更換探頭。
(6)被測物背面有大量腐蝕坑。由于被測物另一面有銹斑、腐蝕凹坑,造成聲波衰減,導(dǎo)致讀數(shù)無規(guī)則變化,在極端情況下甚至無讀數(shù)。
(7)被測物體(如管道)內(nèi)有沉積物,當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時,測厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。
(8)當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷(如夾雜、夾層等)時,顯示值約為公稱厚度的70,此時可用超聲波探傷儀或者帶波形顯示的測厚儀進一步進行缺陷檢測。
X熒光測厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進行電鍍液的成分濃度測定。它能出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時間短,僅為數(shù)十秒;即可分析出各金屬鍍層的厚度,分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法,屬于物理分析方法。當(dāng)鍍層樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,探測器探測到這些特征X射線后,將其光轉(zhuǎn)變?yōu)槟M;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字并送入計算機進行處理;計算機獨有的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)專家及生產(chǎn)技術(shù)人員,依靠多年的先進科學(xué)研究,總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實踐經(jīng)驗,結(jié)合的特色,開發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡便、實用等優(yōu)點。
我公司新研制的X熒光測厚儀,廣泛用于用于鍍層厚度的測量、電鍍液厚度的測量。
1. 儀器特點:
? 同時分析元素周期表中由鈦(Ti)以上元素的鍍層厚度;
? 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度;
? 無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程;分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.01M到60M ;
? 采用先進的探測器技術(shù)及先進的處理線路,處理速度快,精度高,穩(wěn)定可靠;
? 采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管,激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示;
? 采用彩色攝像頭,準(zhǔn)確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像;
? 采用電動控制樣品平臺,可以進行X-Y-Z的,準(zhǔn)確方便;
? 采用雙激光對焦系統(tǒng),準(zhǔn)確定位測量位置;
? 度高,穩(wěn)定性好,故障率低;
? 采用多層屏蔽保護,輻射安全性可靠;
? WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件,獨特先進的分析方法,完備強大的功能,操作簡單,使用方便, 分析結(jié)果存入標(biāo)準(zhǔn)ACCESS數(shù)據(jù)庫;
2、儀器的技術(shù)特性
2.1 X-Y-Z樣品平臺裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。
樣品種類:各種形狀的鍍層樣品,及電鍍液體樣品。
平臺:X-Y-Z采用電動方式,實用方便。

基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
X射線測厚儀具有環(huán)保綠色安全的特性,不但還更環(huán)保而且對于人和環(huán)境的輻射更小。X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),已達到要求的軋制厚度.測量元素:原子序數(shù)22(Ti)~83(Bi)
檢測器:比例計數(shù)管
X射線管:管電壓:50kV 管電流:1
準(zhǔn)直器:4種(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)
樣品觀察:CCD攝像頭(可進行廣域觀察)
X-Ray Station:電腦、19英寸液晶顯示器
膜厚測量軟件:薄膜EP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法
測量功能:自動測量、中心搜索
定性功能:KL標(biāo)記、比較表示
使用電源:220V/7.5A
特長:
1.自動對焦功能 自動接近功能
在樣品臺上放置各種高度的樣品時,只要高低差在80mm范圍內(nèi),即可在3秒內(nèi)自動對焦被測樣品。由此進一步提高定位操作的便捷性。
●自動對焦功能 簡便的攝像頭對焦
●自動接近功能 適合位置的對焦
測量元素:原子序數(shù)22(Ti)~83(Bi)
檢測器:比例計數(shù)管
X射線管:管電壓:50kV 管電流:1
準(zhǔn)直器:4種(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)
樣品觀察:CCD攝像頭(可進行廣域觀察)
X-Ray Station:電腦、19英寸液晶顯示器
膜厚測量軟件:薄膜EP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法
測量功能:自動測量、中心搜索
定性功能:KL標(biāo)記、比較表示
使用電源:220V/7.5A
高分辨率 SDD
元素范圍: 鋁 - 鈾
樣品艙設(shè)計:開槽式
XY 軸樣品臺選擇:固定臺、自動臺
x射線測厚儀是一種檢測儀器,以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),已達到要求的軋制厚度。
x射線測厚儀是一種,以和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度,已達到要求的軋制厚度。今天我們主要來介紹一下x射線測厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成方法,希望可以幫助用戶更好的應(yīng)用產(chǎn)品。
用戶操作終端
用戶操作終端包括一個專用的計算機和高分辨率的彩色。可顯示整個系統(tǒng)的檢測、設(shè)定、偏差值;用戶通過軟件顯示頁面可直接控制和操作測厚儀。主操作頁顯示正常操作所需的各種數(shù)據(jù)。維護頁面顯示系統(tǒng)正常工作時各種參數(shù)高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質(zhì)量有關(guān)的重要數(shù)據(jù)如厚差曲線、厚度與長度關(guān)系曲線均可打印。技術(shù)員能很地通過操作終端的報表打印功能,打印出來以顯示可用信息。
冷卻系統(tǒng)
本系統(tǒng)配備有專用冷卻裝置,該裝置的關(guān)鍵部件,壓縮機組均采用進口原裝組件,具有可靠性高、噪音小、控溫精度高,經(jīng)久耐用等特點。通過C型架上進出油口進行冷卻。了關(guān)鍵部件的使用壽命。
X射線發(fā)射源及接收檢測頭
采用X射線管和。X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻,高壓等級根據(jù)有所區(qū)別,加上具有的溫度自動保護與功能,提高了X射線管的穩(wěn)定性和使用壽命。模塊化設(shè)計、免維護設(shè)計方案及規(guī)范的制造保證了設(shè)備系統(tǒng)高可靠性。
檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成高性能電離室檢測頭,離子室設(shè)計具有大空間,高抗干擾性、高靈敏度等特點。系統(tǒng)備有風(fēng)冷、油冷恒溫冷卻單元,系統(tǒng)的使用壽命。
主控制柜
主控制柜是一個立式控制臺,是個系統(tǒng)的心臟。根據(jù)制系統(tǒng)配置不同,P型采用S7-400PLC作為控制計算中心;G型采用為控制計算中心。控制柜負責(zé)采集和處理從前置放大器傳來的,負責(zé)測厚儀數(shù)據(jù)處理和與軋機AGC系統(tǒng)的接口輸出,為軋機AGC系統(tǒng)提供測厚數(shù)據(jù)及控制??刂乒襁€提供整個系統(tǒng)穩(wěn)定的和現(xiàn)場顯示器的顯示數(shù)據(jù)。
X射線測厚儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器,以實在的價格滿足鍍層厚度測量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計,使儀器操作更人性化、更方便。
2、性能優(yōu)勢
長效穩(wěn)定X銅光管
半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng),摒棄液氮制冷
采用天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強器(SNE)
內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時觀測樣品
脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確
手動開關(guān)樣品腔,操作安全方便
三重安全保護模式
整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型高貴時尚
Fp軟件,無標(biāo)準(zhǔn)樣品時亦可測量
3、技術(shù)指標(biāo)
分析范圍: Ti-U,可分析3層15個元素
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
分析精度:多次測量穩(wěn)定性可達1.
工作電壓:AC 110V/220V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)
測量時間:40秒(可根據(jù)實際情況調(diào)整)
探測器分辨率:(160±5)eV
光管高壓:5-50kV
管流:50μA-1000μA
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:30-70
準(zhǔn)直器:配置不同直徑準(zhǔn)直孔,小孔徑φ0.2mm

臺式x射線測厚儀可測量:單一鍍層:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
應(yīng)用領(lǐng)域:黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測;金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行、首飾銷售和機構(gòu);電鍍行業(yè)。
快速、的分析:
大面積正比計數(shù)探測器和50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強度大、斑點小,樣品激發(fā)佳)相結(jié)合,提供靈敏度
簡單的元素區(qū)分:
通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
性能優(yōu)化,可分析的元素范圍大:
預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法
卓越的長期穩(wěn)定性:
自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正,確保穩(wěn)定的測試結(jié)果
例行進行簡單快速的波譜校準(zhǔn),可自動檢查儀器性能(例如靈敏性)并進行必要的修正
堅固耐用的設(shè)計
可在實驗室或生產(chǎn)操作
堅固的工業(yè)設(shè)計
X射線測厚儀
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),已達到要求的軋制厚度。
應(yīng)用領(lǐng)域
X射線測厚儀
中文名:x射線測厚儀
測量精度:測量厚度的±0。1
測量范圍:0.01mm—8.0mm
靜態(tài)精度:±0.1或者±0.1微米
結(jié)構(gòu)組成
用戶操作終端
冷卻系統(tǒng)
X射線發(fā)射源及接收檢測頭
主控制柜
適用范圍
生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機配套,應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中,x射線測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產(chǎn)過程中對板材厚度進行自動控制。
Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
2、性能優(yōu)勢
精密的三維平臺
卓越的樣品觀測系統(tǒng)
先進的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復(fù)位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關(guān)蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果
3、技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達0.1
穩(wěn)定性:可達0.1
SDD探測器:分辨率低至eV
采用先進的微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

測厚儀產(chǎn)品特性
★進口高精度傳感器,保證了測試精度
★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標(biāo)定制
★測量頭自動升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇
★配備打印機,數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印,方便快捷地獲取測試
★打印值、小值、平均值及每次測量結(jié)果,方便用戶分析數(shù)據(jù)
★儀器自動保存多100組測試結(jié)果,隨時查看并打印
★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備
★測厚儀配備專用自動進樣器,可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量,人為誤差小
★專業(yè)軟件提供測試圖形統(tǒng)計分析,準(zhǔn)確直觀地將測試結(jié)果展示給用戶
★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸

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