眾所周知，X熒光光譜分析儀可對礦樣的元素含量作可靠的定量分析。而若對礦山價值充分利用，有一個關(guān)鍵前提：即需要即時獲取可靠的地球化學(xué)數(shù)據(jù)，以快速描繪出礦體邊界。并且也需要對礦樣的元素進(jìn)行一定的分析，而礦樣的元素含量的定量分析對分析礦山價值有至關(guān)重要的作用。

礦山

目前，大多數(shù)采礦企業(yè)將采礦樣品送到遠(yuǎn)離現(xiàn)場的實驗室進(jìn)行檢測，這不僅費(fèi)時費(fèi)力，而且對偏遠(yuǎn)地區(qū)也不現(xiàn)實。它體積小，檢測速度快，分析數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠X熒光光譜分析儀必將成為礦產(chǎn)企業(yè)*的儀器。X熒光光譜分析儀體積小、重量輕、檢測精度高、性能可靠，可廣泛應(yīng)用于勘探開采過程中各階段的礦樣成分分析，越來越被礦產(chǎn)企業(yè)所接受。X熒光光譜分析儀應(yīng)用廣泛，如冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等。RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用較廣泛。

X熒光光譜儀在陽光直射的高溫和高日照下也能保持高性能，這得益于充分考慮低功耗和儀器設(shè)計X射線管在高溫下及時排放，因此能承受惡劣的工作環(huán)境。其可分析元素可從鎂礦中分析（Mg）到钚礦（Pu）所有83種天然礦石，包括重金屬礦石Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd等等。對于高品位、精選礦石的精確品位評價，提供礦石采集和采購價值的依據(jù)，也可以對礦渣和尾礦中殘留的礦石元素進(jìn)行分析，在礦石開采過程、搪孔過程、研磨、濃縮、熔煉過程中進(jìn)行質(zhì)量檢驗，確定品位，分析濾熔池、儲罐和鋼槽溶液，快速普查大范圍礦區(qū)，有效確定區(qū)域模式，繪制礦山圖，實時調(diào)查現(xiàn)場，快速跟蹤礦化異常，有效尋找熱點(diǎn)區(qū)域，確定礦體邊界具有重要作用。通過現(xiàn)場分析輸送材料、精礦和礦渣，確定、跟蹤、提煉或濃縮過程的有效性。

X熒光光譜分析儀還可以對礦場描繪以及品位控制。通過實時就地分析多個樣本，實現(xiàn)對開采計劃進(jìn)行指導(dǎo)，有效地管理挖掘、爆破工作，在現(xiàn)場確定土壤、沉積物或者鉆孔樣本的地質(zhì)成分，以有效控制勘探成本。它也能夠?qū)ΦV石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類似的樣品進(jìn)行快速的金屬元素含量分析。無論是進(jìn)行原地檢測還是非原地檢測，功能強(qiáng)大的計算軟件能夠自動消除由于不同樣品的材質(zhì)差異所造成的偏差，從而使操作者僅需將儀器探測頭直接接近樣品便可進(jìn)行檢測，而無需其他任何數(shù)據(jù)輸入或者進(jìn)行再次校準(zhǔn)。根據(jù)對檢測精度的不同要求，測試時間僅需數(shù)秒到數(shù)分鐘。

此外，X熒光光譜分析儀可以快速分析礦石樣品、精礦和礦渣的金屬元素成分。允許用戶使用特殊的校正因素來進(jìn)一步提高檢測精度。它可以直接測試礦山現(xiàn)場收集的礦石樣品，但會影響元素的等級值，因為礦石中元素的含量分布不均勻，儀器測試點(diǎn)不能代表整個礦石，理想的分析效果要求我們干燥礦石樣品、研磨（超過160目） ，攪拌均勻，對于幾個含量PPM等級元素，測試時間長，相應(yīng)精度也會提高。

簡而言之，的決策往往取決于現(xiàn)有的礦山模型、公司的經(jīng)驗和技術(shù)。但僅僅充分挖掘礦山價值和制定良好的采礦決策是不夠的。此時，選擇一個性能良好的X熒光光譜分析儀不僅節(jié)約了成本，而且非?？焖?，大大提高了企業(yè)的生產(chǎn)效率。市場上大多數(shù)人X熒光光譜分析儀也參差不齊。選擇適合企業(yè)、性能優(yōu)良的儀器非常重要。與國外價格高、后期維護(hù)及時性低的進(jìn)口儀器相比，創(chuàng)意儀器近年來逐漸得到企業(yè)的認(rèn)可。